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荧光板电子束成像系统对高能电子束电量响应的标定方法

摘要

一种荧光板电子束成像系统对高能电子束电量响应的标定方法,该方法是将成像系统的荧光板的电子入射面覆盖一层电子成像板,并将能谱连续分布的高能量大发散角的电子束通过铝板滤掉低能量电子后同时辐照在电子成像板和荧光板上,利用所述的CCD探测器记录电子束通过电子成像板和电子束通过荧光板上同等面积的计数值;通过已知的电子成像板获得电量信息,从而确定荧光板计数值与电量的对应关系。利用本方法可以对激光尾波场加速实验中的荧光板电子束成像系统进行简单的电量响应标定,而无需标准电子束源。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/66 授权公告日:20130508 终止日期:20150513 申请日:20110513

    专利权的终止

  • 2013-05-08

    授权

    授权

  • 2011-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/66 申请日:20110513

    实质审查的生效

  • 2011-10-05

    公开

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