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缺陷诊断方法和缺陷诊断装置

摘要

本发明涉及一种缺陷诊断方法和缺陷诊断装置,缺陷诊断方法包括构建数据模型,数据模型包括已知缺陷信息和与已知缺陷信息对应的仿真特征参数;获取待测三维无源器件的特征参数;基于已知缺陷信息、仿真特征参数和待测三维无源器件的特征参数,获得待测三维无源器件的缺陷信息。通过数据模型构建模块构建数据模型,通过数据采集模块采集待测三维无源器件的特征参数,再搭配数据处理模块,获得待测三维无源器件的缺陷信息,可以同时诊断多缺陷和多故障;通过本发明的缺陷诊断方法和缺陷诊断装置,批量化诊断缺陷类型、缺陷尺寸和缺陷位置,解决复合缺陷检测与诊断的数据量大、操作困难问题,加快生产厂家的可靠性检测效率、检测精度和检测准确度。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 专利申请号:202111215184X 申请日:20211019

    实质审查的生效

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