首页> 中国专利> 成像质量分析系统以及利用成像质量分析的分析方法

成像质量分析系统以及利用成像质量分析的分析方法

摘要

本发明的成像质量分析系统具备:成像质量分析部(100),对设定在目标试样上的测量区域内的多个微小区域执行质量分析来收集数据,基于该数据获取示出信号强度的分布的图像;定量分析部(300),对于所述目标试样或者类似试样执行由示出比由所述成像质量分析部进行的质量分析更高定量性的规定的分析方法进行的分析,利用该分析结果求出定量值;处理部(400),基于定量值与信号强度,求出信号强度与定量值的关系,利用该关系推定信号强度分布内的任意位置的定量值。由此,能够减少复杂且耗费人力的作业,获取与MS成像图像相对应的高精度的浓度图像。

著录项

  • 公开/公告号CN113433205A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社岛津制作所;

    申请/专利号CN202011419342.9

  • 发明设计人 山口真一;山本卓志;

    申请日2020-12-07

  • 分类号G01N27/64(20060101);G01N30/02(20060101);G01N30/72(20060101);G01N30/06(20060101);G01N1/28(20060101);G01N21/65(20060101);G01N21/64(20060101);G01N21/3577(20140101);G01N21/33(20060101);G01N21/31(20060101);G01N1/30(20060101);H01J49/00(20060101);

  • 代理机构31291 上海立群专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人杨楷;毛立群

  • 地址 日本国京都府

  • 入库时间 2023-06-19 12:42:10

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号