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成像质量分析方法以及成像质量分析装置

摘要

本发明的一方案是用对同种多个试样分别进行成像质量分析的结果来解析该多个试样的成像质量分析装置,具备:测量部(1),对试样上多个微小区域分别执行质量分析,获取质量分析数据;感兴趣区域设定部(32),在解析对象的多个试样上分别设定感兴趣区域且将其分别分割为同数量的多个小区域使多个试样间该小区域所含的试样上的部位大致相同;独立指标值算出部(33),对每个小区域使用由测量部对该小区域所含的微小区域得到的质量分析数据,算出反映多个试样间的每个m/z值表达程度的类似性或差异性的独立指标值;综合指标值算出部(34),用针对多个小区域得到的每个m/z值的独立指标值,算出多个试样的感兴趣区域间的每个m/z值的综合指标值。

著录项

  • 公开/公告号CN113804745A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社岛津制作所;

    申请/专利号CN202110412074.6

  • 发明设计人 山口真一;

    申请日2021-04-16

  • 分类号G01N27/62(20210101);G01N27/64(20060101);G01N21/84(20060101);

  • 代理机构31291 上海立群专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人杨楷;毛立群

  • 地址 日本国京都府

  • 入库时间 2023-06-19 13:45:04

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