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PMOS触发的SCR器件、SCR器件的制造方法及SCR静电保护电路

摘要

本发明提供了一种PMOS触发的SCR器件、SCR器件的制造方法及SCR静电保护电路。其中,本发明提供的PMOS触发的SCR器件,包括埋氧化层,还包括依次设于埋氧化层表面的第一P+注入区、N阱区、P+注入触发区、P阱区和第一N+注入区,第一P+注入区连接于阳极,第一N+注入区连接于阴极,N阱区的远离埋氧化层的一侧设有栅极结构。具有如下有益效果:SCR的导通不依赖于传统结构中N阱和P阱之间结的反向击穿,而是通过开启PMOS管引入沟道电流,大大降低了SCR的触发电压;加快了SCR的开启速度,具备有效性和敏捷性;大大改善了SCR的ESD保护性能。

著录项

  • 公开/公告号CN111725206A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201910691004.1

  • 发明设计人 周墨;单毅;董业民;张振伟;

    申请日2019-07-29

  • 分类号H01L27/02(20060101);H01L21/84(20060101);

  • 代理机构44202 广州三环专利商标代理有限公司;

  • 代理人郝传鑫;贾允

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2023-06-19 08:25:29

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