首页> 中国专利> 在硅或砷化镓基底上制备反射防止膜的方法

在硅或砷化镓基底上制备反射防止膜的方法

摘要

本发明涉及一种含有氧化钛和氧化锆的蒸镀用的氧化钇组成物,及用这种组成物作为蒸镀材料制造用于如硅或GaAs那样的III-V族化合物半导体用的反射防止膜,该反射防止膜能使被蒸镀物上的表面反射率几乎为零。而且,由于时效变化小,动作时间可以延长。

著录项

  • 公开/公告号CN1017164B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1992-06-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三菱电机株式会社;

    申请/专利号CN87107819.8

  • 发明设计人 坪井俊吾;

    申请日1987-11-12

  • 分类号C23C14/08;G02B1/10;

  • 代理机构上海专利事务所;

  • 代理人王丽川

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 08:54:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1996-12-25

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 1996-12-25

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 1993-02-10

    授权

    授权

  • 1993-02-10

    授权

    授权

  • 1992-06-24

    审定

    审定

  • 1992-06-24

    审定

    审定

  • 1988-08-17

    公开

    公开

  • 1988-04-27

    实质审查请求

    实质审查请求

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