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用于设置具有自适应等离子体源的等离子体室的方法、使用该等离子体室的等离子体蚀刻方法和用于自适应等离子体源的制造方法

摘要

这里所公开的是一种用于在等离子体室中生成等离子体的等离子体室设置方法。制备多个等离子体线圈,包括第一等离子体源线圈、第二等离子体源线圈和第三等离子体源线圈,该第二等离子体源线圈在其中心部分具有高于第一等离子体源线圈蚀刻速率的蚀刻速率,该第三等离子体源线圈在其边缘部分具有高于第一等离子体源线圈蚀刻速率的蚀刻速率。将第一等离子体源线圈设置在等离子体室上,并蚀刻测试芯片。对测试芯片的每个位置的蚀刻速率进行分析,并基于分析结果利用第二等离子体源线圈或第三等离子体源线圈代替第一等离子体源线圈。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-03-25

    发明专利申请公布后的驳回

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2007-03-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-01-17

    公开

    公开

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