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【24h】

Reply to 'Comment on 'Electron-phonon scattering in Sn-doped In2O3 FET nanowires probed by temperature-dependent measurements''

机译:答复“关于“通过温度相关测量探测锡掺杂的In2O3 FET纳米线中电子声子散射的评论””

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摘要

In this reply we discuss the use of two and four-probe methods in the resistivity measurements of ITO nanowires. We pointed out that the results obtained by using two or four probe methods are indistinguishable in our case. Additionally we present the correct values for resistivity and consequently for the density of electrons.
机译:在此答复中,我们讨论了在ITO纳米线的电阻率测量中使用两种和四种探针方法。我们指出,在我们的案例中,使用两种或四种探针方法获得的结果是无法区分的。此外,我们提供了电阻率的正确值,因此也给出了电子密度的正确值。

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