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紫外·可視反射分光法による表面薄膜解析

机译:紫外/可见反射光谱法分析表面薄膜

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摘要

最近のシンクロトロン放射光を用いた分光電気化学測定法や各種の走査プローブ顕微鏡の進歩により,紫外·可視光の反射を利用した分光電気化学測定法の表面敏感な特徴は,腐食防食の分野ではあまり強調されなくなってきている。 しかし,本稿で述べたように,マルチチャンネル分光エリプソメータの開発によってエリプソメトリーは表面薄膜の厚さ,化学組成,ミクロおよび層構造のreal-time解析技術としての新たなる発展を遂げつつある。 マルチチャンネル検出器を用いるとDR法およびPMR法による反射率測定も高速化することができる。 これらの高速化されたreal-time測定技術は不働態皮膜などの腐食関連皮膜のin-situ解析にも応用可能であり,この分野でも新たな発展が期待される。
机译:由于使用同步加速器辐射的光谱电化学测量方法和各种扫描探针显微镜的最新进展,使用紫外线和可见光反射的光谱化学测量方法的表面敏感特征在腐蚀防护领域变得显而易见。它变得越来越不受重视。但是,正如本文所述,多通道光谱椭偏仪的发展正在将椭圆偏光仪作为一种用于表面薄膜厚度,化学成分,微层结构的实时分析技术。当使用多通道检测器时,还可以加快通过DR方法和PMR方法进行的反射率测量。这些高速实时测量技术还可以用于腐蚀相关膜(例如非活性膜)的原位分析,并且在该领域也有望获得新的发展。

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