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网络化边缘扫描集成电路测试系统研制

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摘要

简单论述了边缘扫描测试技术,详述了研制的网络化边缘扫描测试系统的构建方法.针对测试系统的实际应用进行了说明.

著录项

来源
《微处理机》 |2009年第1期|22-2427|共4页
作者
张琳; 刘炜; 陈希;
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作者单位

北京华大泰思特半导体检测技术有限公司;

北京;

100088;

北京华大泰思特半导体检测技术有限公司;

北京;

100088;

北京华大泰思特半导体检测技术有限公司;

北京;

100088;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微电子学、集成电路（IC）;
关键词
边缘扫描测试; 以太网; 集成电路测试系统;

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