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欧阳吉庭; 麦振洪; 崔树范;
不详;
半导体; 薄膜; 界面; 粗糙; 超晶格;
机译:双晶摇摆曲线模拟使用X射线辐射的2D光谱角度图
机译:MoKαX射线特征线在双晶非色散方案中测得的摇摆曲线的实验和理论研究
机译:分辨率函数在双晶X射线摇摆曲线形成中的重要作用
机译:通过双晶X射线摇摆曲线和峰值位置图测量的SiC晶片中的马赛克和晶片弯曲
机译:孔径建模对散塞区污染物流体界面界面的表面粗糙度影响
机译:粗糙水泥-水泥界面的疲劳剥离:表面粗糙度和加热条件的影响
机译:用双晶体技术测量掺铜硅晶片本征摇摆曲线半峰的X射线
机译:用X射线摇摆曲线和双晶X射线形貌评价蓝宝石的质量。
机译:粗糙度截面曲线评价方法,粗糙度分析装置及粗糙度分析程序,粗糙度测定方法及粗糙度测定装置
机译:X射线检测装置,X射线薄膜检测方法和摇摆曲线测量方法
机译:X射线检查装置,X射线薄膜检查方法及摇摆曲线的测定方法
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