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微波功率器件在动态寿命试验中的失效机理

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摘要

介绍了某型号S波段微波功率器件在动态加速寿命试验中的主要失效模式,分析了失效机理.从失效样品的参数测试结果及解剖分析看,造成器件的主要失效机理是:金属化电极尤其是发射极在电流和温度的共同作用下发生的电迁移失效.这是影响微波功率器件长期工作寿命的主要失效机理之一.

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来源
《第九届全国可靠性物理学术讨论会》|2001年|118-122|共5页
会议地点延安
作者
来萍; 范国华; 张晓明; 金毓铨; 荣炳麟; 冯敬东;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类微波半导体器件;可靠性及例行试验;
关键词
微波功率器件; 动态寿命试验; 失效机理;

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