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硅微波功率晶体管动态加速寿命试验研究

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本试验是对微波器件工作状态可靠性评价技术的探索,采用了与器件微波工作状态一致的试验技术,简化了试验设备,提高了设备可靠性.

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来源
《第九届全国可靠性物理学术讨论会》|2001年|110-117|共8页
会议地点延安
作者
范国华; 金毓铨; 荣炳麟; 来萍; 冯进东; 扬宝生; 王瑞曾; 田明均; 徐进;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试技术及设备;晶体管：按性能分;
关键词
硅微波功率晶体管; 工作寿命试验; 可靠性数据;

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