扫描电化学显微镜研究绝缘基底上自组装复合膜电子转移动力学

摘要

自组装复合膜由于其制备相对容易,结构简单且容易控制等特点引起人们的关注。碳纳米管是一种具有优异导电性、吸附性、生物相容性等特性的纳米材料。通过自组装方式，在基底上构建碳纳米管复合膜，这在纳米电子器件，超强复合材料，分子器件，电化学检测，催化剂载体以及固定酶等方面有着重要应用。目前自组装膜的表征技术主要有:光谱分析，表面形貌结构分析，能谱分析，以及电化学分析。现有的传统电化学方法，都要求自组装膜构建在导体基底上，而对 于构建在绝缘基底上的自组装膜则不能进行有效研究。我们利用扫描电化学显微镜(SECM)这一扫描探针技术，对绝缘基底上的碳纳米管自组装复合膜进行研究。利用其反馈模式，能够探测绝缘基底上自组装膜的电化学活性。通过对实验结果进行分析，我们还能够准确得到这些自组装膜的电子转移速率常数，这对深入的研究自组装膜的机理极其应用有着重要意义。