CF
CF的相关文献在1975年到2023年内共计910篇,主要集中在自动化技术、计算机技术、肿瘤学、化学工业
等领域,其中期刊论文306篇、会议论文1篇、专利文献603篇;相关期刊249种,包括初中数学教与学、医疗卫生装备、中国农资等;
相关会议1种,包括第十六届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议等;CF的相关文献由1934位作者贡献,包括朱姝、周剑锋、史如静等。
CF
-研究学者
- 朱姝
- 周剑锋
- 史如静
- 王忠福
- 任毅
- 刘庆波
- 张涛
- 李忠波
- 许少普
- 郑金花
- 倪德伟
- 储国平
- 刘璐洋
- 吴少川
- 李壮
- 李强
- 李翠艳
- 林宪登
- 欧阳海波
- 王文翰
- 秦振清
- 董绍明
- 赖安·J·赫尔斯
- 丹尼尔·C·默克尔
- 克里斯蒂安·郑工
- 刘小勇
- 刘心阳
- 刘荣军
- 吴俊平
- 周海军
- 唐郑磊
- 康文举
- 康鹏超
- 张占杰
- 张圣君
- 曹丽云
- 朱书成
- 李砾工
- 杨阳
- 武高辉
- 洪君
- 潘中德
- 王怀信
- 王海友
- 王衍飞
- 程春田
- 航·T·彭
- 芶华松
- 郭涛
- 陈国钦
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摘要:
北京冬奥会延庆赛区路面应用马飞龙液态有机融雪剂融雪除冰随着北京冬奥会的临近,延庆赛区的路面除雪铲冰工作已全面启动。由于该赛区所在的海陀山地势高、温差大,作业单位提前建设了液体融雪剂储存罐并储备了CF-7TM液体有机融雪剂,这是北京冬奥会延庆赛区继2020年试用之后正式应用CF-7TM非氯有机融雪剂,充分贯彻了“绿色办奥”理念。
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摘要:
从2012年算起,穿越火线职业联赛CFPL正在走进第十年。提起这段历程,有太多值得被描述的瞬间,太多值得被提起的选手。江山代有才人出,他们要么取得了他人难以企及的成就,要么以自身的影响力鞭策一代又一代新人。在CF各项大型赛事的现场,在熟悉的地图里,当代CF的新星们再次在赛场上汇聚,枪声响起,往昔的画面骤然清晰,记忆中的身影也在一同闪耀。
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张丽玉
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摘要:
(本讲适合高中) 先举一个简单例子说明什么是对称分离方法. 引例 如图1,已知AD、BE、CF为△ABC的中线.证明:AD、BE、CF交于同一点. 证明 如图2,设AD、BE交于点G1,联结DE. 则 DE(=)1/2AB ? DG1=1/2AG1 如图3,设AD、CF交于点G2,联结DF.类似可证DG2=1/2AG2. 从而,点G1与G2重合. 因此,AD、BE、CF交于同一点.
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刘慧娜;
应三九;
丁亚军;
顾晗
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摘要:
为改善以黑索金(RDX)为含能组分、二醋酸纤维素(CA)为黏结剂的可燃壳体的力学性能,在此基础配方上添加适量碳纤维(CF),然后通过超临界二氧化碳(SC-CO2)发泡技术制备了微孔可燃壳体;采用扫描电子显微镜和落锤冲击试验机,分别研究了发泡前后可燃壳体的断面形貌和力学性能.结果表明,添加适量的CF,可提高可燃壳体的冲击强度,且冲击强度随着CF添加量的增大而增大;当CF的质量分数为1.0% 时,未发泡可燃壳体的力学性能最优,冲击强度由5.11kJ/m2提高到8.20kJ/m2,增幅达60.47%;增大饱和压力、发泡温度和发泡时间都能够增大泡孔直径,但发泡温度高于130°C会导致泡孔合并;发泡将降低壳体的力学性能,但采用受限发泡制得的可燃壳体的冲击强度优于自由发泡法,当发泡时间为180s时,受限发泡的冲击强度由自由发泡时的5.93kJ/m2升至6.34kJ/m2.
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白鑫;
王云英;
陈新文;
孟江燕
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摘要:
综述了近年来国内外关于氧化处理法、表面涂层法、等离子体处理法对CF本体性能、CFRP力学性能的影响研究进展,分析了不同处理法改性CF对CFRP力学性能的作用机制、改性效果和优缺点.指出了近年来国内外研究存在的问题和今后的发展趋势,推动高性能CFRP在航空航天领域进一步应用,为今后研究者进一步研发和生产新型复合材料、改进CFRP综合性能提供完整的数据信息和理论依据.
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胡伟斌
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摘要:
1.题目呈现.如图LRt△ABC中,∠ACB=90°,AC=4,点D是AC的中点,点E在边BC上,且CE√3,以DE为边,在DE的右侧构造等边三角形连DEF,连接CF,则CF的长为___。
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袁安全
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摘要:
作者依据不同定理,角度不同给出了多种证明方法,为同学们拓展了思路.供有兴趣的同学借鉴.题目[1]已知E、F分别为△ABC边AC和上的点,BE与CF交于点P,AP与EF交于点Q,过点Q的直线分别与AB、BC、CF交于点G、D、M,CG与DE交于点N.
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张田荣;
曹宏伟
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摘要:
程序传输是数控加工中利用CAD/CAM软件编程制造的重要环节,直接决定数控加工能否顺利进行.CF卡是在数控机床与计算机之间进行数据传输的常用中介工具.通过实践操作探索,提出了在FANUC 0i M数控系统中用CF卡进行程序输入与输出时的注意事项,以及直接用CF卡上存储的程序进行DNC在线加工的操作方法和技巧.
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潘才渊;
杨丽媛;
杨凌;
马晓华;
张进城;
郝跃
- 《第十六届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议》
| 2010年
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摘要:
为了解决MOS结构high-k介质引入的界面态问题和栅控能力降低,本文通过F基刻蚀si3N4和Cl基刻蚀AlGaN形成槽栅结构的MOS-HEMT8器件(Cl基刻蚀时间分别为15S,17s和19s)。rn 常规MDS-HEMTs器件的肖特基反向漏电比常规HEMTs器件小三个量级。通过槽栅刻蚀后,器件的跨导有较大的提高。用变频C-F法测量MOS结构的界面态,我们发现当槽栅深度为1.02nm时。界面特性最佳,界面时常数τit=(0.20-1.59)μs,密度Du=(0.55-1.08)1012cm-2eV-1。在槽栅刻蚀后,界面态密度明显减小了,而且没产生新的界面陷阱类型。这是由于Cl基刻蚀了AlGaN层的天然氧化层,减小了界面态。这氧化层由于AlOx和GaOx氧化物的形成使得N原子的缺失,从而形成了N空位,同时AlGaN亚表面区域也有其他杂质(如C,O,Si等)。研究不同槽栅深度的MOS-HEMTs的电流崩塌特性,发现短时间低功率的Cl基刻蚀造成的损伤基本没有加剧器件的电流崩塌.
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潘才渊;
杨丽媛;
杨凌;
马晓华;
张进城;
郝跃
- 《第十六届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议》
| 2010年
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摘要:
为了解决MOS结构high-k介质引入的界面态问题和栅控能力降低,本文通过F基刻蚀si3N4和Cl基刻蚀AlGaN形成槽栅结构的MOS-HEMT8器件(Cl基刻蚀时间分别为15S,17s和19s)。rn 常规MDS-HEMTs器件的肖特基反向漏电比常规HEMTs器件小三个量级。通过槽栅刻蚀后,器件的跨导有较大的提高。用变频C-F法测量MOS结构的界面态,我们发现当槽栅深度为1.02nm时。界面特性最佳,界面时常数τit=(0.20-1.59)μs,密度Du=(0.55-1.08)1012cm-2eV-1。在槽栅刻蚀后,界面态密度明显减小了,而且没产生新的界面陷阱类型。这是由于Cl基刻蚀了AlGaN层的天然氧化层,减小了界面态。这氧化层由于AlOx和GaOx氧化物的形成使得N原子的缺失,从而形成了N空位,同时AlGaN亚表面区域也有其他杂质(如C,O,Si等)。研究不同槽栅深度的MOS-HEMTs的电流崩塌特性,发现短时间低功率的Cl基刻蚀造成的损伤基本没有加剧器件的电流崩塌.
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潘才渊;
杨丽媛;
杨凌;
马晓华;
张进城;
郝跃
- 《第十六届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议》
| 2010年
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摘要:
为了解决MOS结构high-k介质引入的界面态问题和栅控能力降低,本文通过F基刻蚀si3N4和Cl基刻蚀AlGaN形成槽栅结构的MOS-HEMT8器件(Cl基刻蚀时间分别为15S,17s和19s)。rn 常规MDS-HEMTs器件的肖特基反向漏电比常规HEMTs器件小三个量级。通过槽栅刻蚀后,器件的跨导有较大的提高。用变频C-F法测量MOS结构的界面态,我们发现当槽栅深度为1.02nm时。界面特性最佳,界面时常数τit=(0.20-1.59)μs,密度Du=(0.55-1.08)1012cm-2eV-1。在槽栅刻蚀后,界面态密度明显减小了,而且没产生新的界面陷阱类型。这是由于Cl基刻蚀了AlGaN层的天然氧化层,减小了界面态。这氧化层由于AlOx和GaOx氧化物的形成使得N原子的缺失,从而形成了N空位,同时AlGaN亚表面区域也有其他杂质(如C,O,Si等)。研究不同槽栅深度的MOS-HEMTs的电流崩塌特性,发现短时间低功率的Cl基刻蚀造成的损伤基本没有加剧器件的电流崩塌.