Smith圆图

摘要： 为解决电容式微机械超声换能器(CMUT)声发射能力弱、输出声压低的问题,根据CMUT工作原理与阻抗匹配理论设计了匹配电路。在此基础上,测试阻抗匹配前后CMUT的轴向声场与辐射声场指向性。测试结果表明:在相同测试距离或偏转角度时,阻抗匹配后的CMUT输出声压明显提升,且不会影响CMUT的声场特性。通过实验验证与对比分析,该阻抗匹配电路有效改变CMUT的阻抗特性,提升声发射能力,为CMUT的实际应用提供解决方案。

摘要： 针对消费者对设备小型化的需求,电子设备的设计复杂度不断加深,射频阻抗匹配链路的可靠性以及简单化变得必不可少.L型匹配网络是最简单、低成本且高可靠性的阻抗匹配拓扑结构.文中介绍了L型匹配网络的8种组件方式,利用smith圆图工具进行设计,并分析L型匹配网络,通过ADS仿真分析不同拓扑结构的阻抗匹配和频率响应,实现源端和负载的阻抗变换.研究结果表明,L型匹配网络可以实现最优传输性能,有效地抑制谐波.

摘要： 为研究Jauman吸收体的吸波特性,采用有机导电涂层材料和聚氨酯泡沫作为电阻屏和隔离层材料,测试电阻屏和隔离层泡沫的电磁参数,首先研究Salisbury屏吸波特性,包括不同电阻屏厚度对电磁波输入阻抗、反射系数以及反射率的影响,然后计算双电阻屏Jauman吸收体输入阻抗,以及电阻屏厚度对Jauman吸收体反射系数的影响.结果表明:在Salisbury屏第一层厚度不变的情况下,随着第二层厚度增加,材料反射率呈现先降低后升高的规律.对于双屏Jauman吸收体,当第二层厚度为72?μm,第四层厚度为11?μm时,反射系数绝对值|Γ|最小值为0.00157,吸波性能最优.双屏Jauman吸收体反射率小于–10?dB的带宽达到13.1?GHz,Salisbury屏反射率小于–10?dB的带宽为9.1?GHz,表明双屏Jauman吸收体吸收带宽明显大于Salisbury屏吸收体吸收带宽.

摘要： L节匹配网络是一种形式简单的微波匹配网络,对于匹配网络的教学有着重要作用.本文针对L节匹配网络的两种形式,推导了各自使用的充要条件,指出了经典教材中的不足.为了进一步理解充要条件的意义,本文结合Smith圆图对上述条件进行了阐述和验证,并基于上述讨论,给出了自制的L节匹配网络程序.

摘要： 文章应用MATLAB、AutoCAD和等工具软件,在微波技术课程的传输线、Smith圆图和矩形波导教学中,分别进行了仿真实验设计,应用MATLAB绘制显示了传输线行波、驻波和行驻波动态波形图,应用AutoCAD辅助Smith圆图求解传输线问题,应用HFSS仿真了矩形波导中的三维场分布,将微波技术复杂的数学公式中所隐含的特点,通过可视化的仿真实验结果呈现出来.

摘要： 在微波技术课程教学中,应用Smith圆图求解传输线的特征参数问题,是学生需要掌握的一个重要知识点,通过直接在打印的Smith圆图上面求解,面临的一个突出问题是读数精度较低,包括一些科技书籍上的例题都存在Smith圆图读数精度较低问题.本文通过将Smith圆图pdf源文件导入到AutoCAD中,通过精确的坐标标定,使用AutoCAD的作图和测量方法,可以准确的获得结果到小数点后3位读数,从而较大幅度提高Smith圆图求解结果精度.

摘要： 论文详细分析了噪声和增益之间的关系,建立适用于传统接收机的模型,并以此为基础得到基于接收机系统噪声的最佳点.这种方法可广泛应用于各类接收机系统中,降低接收机系统整机噪声系数.

摘要： 针对磁耦合谐振式无线电能传输系统中传输距离或负载的改变会导致输入阻抗与射频内阻不匹配,引起输出功率下降的问题,以L型匹配网络为例,提出了一种基于Smith圆图理论的阻抗匹配方法.该方法根据等效电路理论和Smith圆图理论推导出了关于匹配电感和匹配电容的参数表达式,在阻抗失配的情况下通过调节归一化电阻变量即可控制匹配网络参数,从而实现系统的阻抗匹配.仿真和实验结果表明,该匹配方法网络结构简单,避免了复杂的计算过程;相同条件下,匹配后的系统输出功率相较匹配前得到了明显提高,且可有效抑制系统的频率分裂.

摘要： 本文对LCD液晶屏上RFID射频场进行了研究,提出了LCD液晶屏与RFID射频天线上下重叠的连接方式,阐述了LCD液晶屏上RFID射频天线的设计方法.采用仿真软件Ansoft HFSS设计并仿真符合具体参数要求的天线线圈;使用矢量网络分析仪测量出PCB天线线圈的物理参数,根据品质因子的实际需求值 计算阻尼电阻 值来调整品质因子;利用现有经验公式计算出EMC滤波电路参数,网络匹配参数,完成天线系统的滤波和阻抗匹配;最后使用矢量网络分析仪,利用Smith圆图调谐天线系统阻抗匹配,完成整体系统阻抗匹配.这种设计改变了现有金融POS机外观设计理念,突破了传统刷卡区和显示区不在同一个区域的限制,实现显示区就是刷卡区.

摘要： 用四个MATLAB程序解决基于Smith圆图的传输线上的阻抗变换和支节阻抗匹配的问题.所编程序考虑了匹配时支节的并联、串联以及共轭匹配、匹配禁区等问题.从而达到使程序要输入的参数尽可能少,又具有适用于各种情况的通用性之目的.

摘要： 用四个MATLAB程序解决基于Smith圆图的传输线上的阻抗变换和支节阻抗匹配的问题.所编程序考虑了匹配时支节的并联、串联以及共轭匹配、匹配禁区等问题.从而达到使程序要输入的参数尽可能少,又具有适用于各种情况的通用性之目的.

摘要： 用四个MATLAB程序解决基于Smith圆图的传输线上的阻抗变换和支节阻抗匹配的问题.所编程序考虑了匹配时支节的并联、串联以及共轭匹配、匹配禁区等问题.从而达到使程序要输入的参数尽可能少,又具有适用于各种情况的通用性之目的.

摘要： 用四个MATLAB程序解决基于Smith圆图的传输线上的阻抗变换和支节阻抗匹配的问题.所编程序考虑了匹配时支节的并联、串联以及共轭匹配、匹配禁区等问题.从而达到使程序要输入的参数尽可能少,又具有适用于各种情况的通用性之目的.

摘要： 介绍了某极化雷达接收机X波段三级低噪声放大器的设计,详细阐述了利用经典Smith圆图匹配方法结合微波电路CAD软件Microwave Office来优化设计的过程和方法,电路加工考虑了放大器的电磁兼容设计,其实际测试结果表明,该低噪声放大器达到了预定的技术指标,性能良好.在其工作频段内,输入驻波系数≤2,噪声系数≤1.3dB,增益≥31dB.

摘要： 介绍了某极化雷达接收机X波段三级低噪声放大器的设计,详细阐述了利用经典Smith圆图匹配方法结合微波电路CAD软件Microwave Office来优化设计的过程和方法,电路加工考虑了放大器的电磁兼容设计,其实际测试结果表明,该低噪声放大器达到了预定的技术指标,性能良好.在其工作频段内,输入驻波系数≤2,噪声系数≤1.3dB,增益≥31dB.

摘要： 介绍了某极化雷达接收机X波段三级低噪声放大器的设计,详细阐述了利用经典Smith圆图匹配方法结合微波电路CAD软件Microwave Office来优化设计的过程和方法,电路加工考虑了放大器的电磁兼容设计,其实际测试结果表明,该低噪声放大器达到了预定的技术指标,性能良好.在其工作频段内,输入驻波系数≤2,噪声系数≤1.3dB,增益≥31dB.

摘要： 介绍了某极化雷达接收机X波段三级低噪声放大器的设计,详细阐述了利用经典Smith圆图匹配方法结合微波电路CAD软件Microwave Office来优化设计的过程和方法,电路加工考虑了放大器的电磁兼容设计,其实际测试结果表明,该低噪声放大器达到了预定的技术指标,性能良好.在其工作频段内,输入驻波系数≤2,噪声系数≤1.3dB,增益≥31dB.

摘要： 介绍了某极化雷达接收机X波段三级低噪声放大器的设计,详细阐述了利用经典Smith圆图匹配方法结合微波电路CAD软件Microwave Office来优化设计的过程和方法,电路加工考虑了放大器的电磁兼容设计,其实际测试结果表明,该低噪声放大器达到了预定的技术指标,性能良好.在其工作频段内,输入驻波系数≤2,噪声系数≤1.3dB,增益≥31dB.

摘要： 介绍了某极化雷达接收机X波段三级低噪声放大器的设计,详细阐述了利用经典Smith圆图匹配方法结合微波电路CAD软件Microwave Office来优化设计的过程和方法,电路加工考虑了放大器的电磁兼容设计,其实际测试结果表明,该低噪声放大器达到了预定的技术指标,性能良好.在其工作频段内,输入驻波系数≤2,噪声系数≤1.3dB,增益≥31dB.

摘要： 本发明公开的绘制Smith圆图的圆图尺，包括第一圆图尺、第二圆图尺、第三圆图尺和第四圆图尺，第一圆图尺、第二圆图尺和第三圆图尺均为直尺，第四圆图尺为圆环尺，第一圆图尺和第二圆图尺上均刻有反射系数刻度线、电抗值刻度线和电阻值刻度线，第三圆图尺上刻有电抗值刻度线，第四圆图尺上由内而外依次刻有反射系数相位刻度线、向负载电长度刻度线及向信号源电长度刻度线，第二圆图尺的一端活动连接于第一圆图尺上，第二圆图尺的另一端与第三圆图尺活动连接，第一圆图尺的一端活动连接于第四圆图尺上，解决了现有绘制Smith圆图的软件难度高且无法适应于教学的问题。

摘要： 本发明属于阻抗电参数测量技术领域，涉及一种基于LCR数字电桥和Smith圆图的阻抗测试系统，上位机对LCR数字电桥进行参数配置，LCR数字电桥依据上位机的参数配置实施阻抗扫频测试，并将阻抗扫频测试数据传送给上位机，阻抗圆图显示界面包括阻抗圆图显示区域和文本框显示区域，基于Smith圆图的阻抗测试软件模块将LCR数字电桥提供的所有扫频点和所对应的阻抗值显示于阻抗圆图显示区域中，从阻抗扫频测试数据中提取所有的谐振频率和对应的阻抗、工作频率及对应的阻抗显示于文本框显示区域中。本发明实现了超声波传感器的扫频阻抗圆图显示，使得阻抗测试曲线和结果清晰直观，便于测试结果的在线性能分析与优劣判断。

摘要： 一种基于Smith圆图的多频匹配系统，包括：多频数据输入模块，用于同时并行输入多个起始阻抗值并设定Smith圆图归一化参考阻抗，其中，所述多个起始阻抗值对应的频率不相同；控制面板模块，用于提供多个电路元件的控制按钮，其中，所述多个电路元件根据用户选择的控制按钮组成电路单元；结果计算和显示模块，所述结果计算和显示模块与所述多频数据输入模块和所述控制面板模块相连，用于计算并显示不同频率的多个起始阻抗值对应的阻抗点在Smith圆图中位置、所述多个起始阻抗值在并联/串联所述电路元件后输入阻抗在Smith圆图的变化和对应的实时反射系数，以进行多频共时匹配。本发明计算精度高，简单易用，方便用户进行多频匹配和调谐。

摘要： 检查系统(100)具备探测器(200)和测试器(300)。测试器(300)具有：多个测试器模块板(33)，所述多个测试器模块板(33)搭载有与多个DUT对应的多个LSI；以及测试器控制部(35)，其具有显示部(44)和晶圆图描绘应用程序(60)，该显示部(44)显示表示出多个DUT的检查结果以及/或者测试器(300)的自我诊断结果的晶圆图，该晶圆图描绘应用程序(60)描绘要显示于显示部(44)的晶圆图，其中，晶圆图描绘应用程序(60)针对多个DUT的各DUT分等级地显示检查结果以及/或者自我诊断结果，并且将晶圆图中的多个DUT的各DUT与搭载于多个测试器模块板(33)的多个LSI的各LSI建立关联。

摘要： 本发明公开的绘制Smith圆图的圆图尺，包括第一圆图尺、第二圆图尺、第三圆图尺和第四圆图尺，第一圆图尺、第二圆图尺和第三圆图尺均为直尺，第四圆图尺为圆环尺，第一圆图尺和第二圆图尺上均刻有反射系数刻度线、电抗值刻度线和电阻值刻度线，第三圆图尺上刻有电抗值刻度线，第四圆图尺上由内而外依次刻有反射系数相位刻度线、向负载电长度刻度线及向信号源电长度刻度线，第二圆图尺的一端活动连接于第一圆图尺上，第二圆图尺的另一端与第三圆图尺活动连接，第一圆图尺的一端活动连接于第四圆图尺上，解决了现有绘制Smith圆图的软件难度高且无法适应于教学的问题。

摘要： 本发明属于阻抗电参数测量技术领域，涉及一种基于LCR数字电桥和Smith圆图的阻抗测试系统，上位机对LCR数字电桥进行参数配置，LCR数字电桥依据上位机的参数配置实施阻抗扫频测试，并将阻抗扫频测试数据传送给上位机，阻抗圆图显示界面包括阻抗圆图显示区域和文本框显示区域，基于Smith圆图的阻抗测试软件模块将LCR数字电桥提供的所有扫频点和所对应的阻抗值显示于阻抗圆图显示区域中，从阻抗扫频测试数据中提取所有的谐振频率和对应的阻抗、工作频率及对应的阻抗显示于文本框显示区域中。本发明实现了超声波传感器的扫频阻抗圆图显示，使得阻抗测试曲线和结果清晰直观，便于测试结果的在线性能分析与优劣判断。

摘要： 一种基于Smith圆图的多频匹配系统，包括：多频数据输入模块，用于同时并行输入多个起始阻抗值并设定Smith圆图归一化参考阻抗，其中，所述多个起始阻抗值对应的频率不相同；控制面板模块，用于提供多个电路元件的控制按钮，其中，所述多个电路元件根据用户选择的控制按钮组成电路单元；结果计算和显示模块，所述结果计算和显示模块与所述多频数据输入模块和所述控制面板模块相连，用于计算并显示不同频率的多个起始阻抗值对应的阻抗点在Smith圆图中位置、所述多个起始阻抗值在并联/串联所述电路元件后输入阻抗在Smith圆图的变化和对应的实时反射系数，以进行多频共时匹配。本发明计算精度高，简单易用，方便用户进行多频匹配和调谐。

摘要： 检查系统(100)具备探测器(200)和测试器(300)。测试器(300)具有：多个测试器模块板(33)，所述多个测试器模块板(33)搭载有与多个DUT对应的多个LSI；以及测试器控制部(35)，其具有显示部(44)和晶圆图描绘应用程序(60)，该显示部(44)显示表示出多个DUT的检查结果以及/或者测试器(300)的自我诊断结果的晶圆图，该晶圆图描绘应用程序(60)描绘要显示于显示部(44)的晶圆图，其中，晶圆图描绘应用程序(60)针对多个DUT的各DUT分等级地显示检查结果以及/或者自我诊断结果，并且将晶圆图中的多个DUT的各DUT与搭载于多个测试器模块板(33)的多个LSI的各LSI建立关联。

摘要： 本发明公开了一种基于三维Smith图的轴流透平叶片设计方法，包括以下步骤：步骤一，针对给定工况进行一维设计得到不同反动度下Smith图，将反动度作为第三个轴，将原有的二维Smith图扩展到三维空间，得到三维Smith图；步骤二，利用叶片的径向反动度分布规律，使用三维Smith图指导设计若干对应反动度的二维叶型，将这些二维叶型沿着重心堆叠从而得到三维叶型；步骤三，对得到三维叶型进行三维数值模拟，重复步骤二直至径向反动度分布满足设计要求，最终得到透平叶。根据本发明，消除了传统Smith图的部分局限性(只适用于反动度0.5左右工况)，比传统的二维Smith图更加准确，适用范围更广，通过三维数值模拟反复修正，最终得到的三维叶片能获得更好的气动性能。

摘要： 本申请涉及一种晶圆测试数据的处理方法、装置以及绘制晶圆图的方法，所述晶圆测试数据的处理方法包括：获取目标晶圆的测试数据以及所述目标晶圆的晶圆图；将所述晶圆图划分成多个分割单元；遍历所述晶圆图中所述多个分割单元内的测试数据，分别确定所述多个分割单元的存储数据；其中，所述分割单元的存储数据包括所述分割单元所包含的裸片数量、单元测试参数值、位置信息，所述单元测试参数值根据所述分割单元内的测试数据计算得到，用于表征所述分割单元内的测试数据；存储所述多个分割单元的存储数据。本申请实施例提供的晶圆测试数据的处理方法可以只存储所述多个分割单元的测试数据，不需要存储所有裸片的测试数据，节省存储资源。