首页> 外国专利> Low noise avalanche photodiode having an avalanche multiplication layer of InAlAs/InGaAlAs

Low noise avalanche photodiode having an avalanche multiplication layer of InAlAs/InGaAlAs

机译:具有InAlAs / InGaAlAs雪崩倍增层的低噪声雪崩光电二极管

摘要

An avalanche photodiode includes an avalanche multiplication layer including a superlattice structure consisting of a plurality of barrier and well layers both lattice matched to InP such that the plurality of barrier and well layers are alternately provided one layer on the other layer. The barrier layers consist of InAlAs and the well layers consist of InCaAlAs quarternary system mixed crystal having a forbidden width smaller than 1 eV.
机译:雪崩光电二极管包括雪崩倍增层,该雪崩倍增层包括由晶格匹配于InP的多个势垒和阱层组成的超晶格结构,使得多个势垒和阱层在另一层上交替设置。势垒层由InAlAs组成,阱层由InCaAlAs四元系混合晶体组成,其禁忌宽度小于1 eV。

著录项

  • 公开/公告号US5432361A

    专利类型

  • 公开/公告日1995-07-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;

    申请/专利号US19930148429

  • 发明设计人 KENKO TAGUCHI;

    申请日1993-11-08

  • 分类号H01L29/78;H01L33/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 04:04:39

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号