用于预测电气元件的老化特性的影响的方法和用于仿真此特性的仿真模型

摘要

本发明公开了用于预测连接器元件的老化特性的影响的方法，其借助于至少一个电阻器元件和电压源、以及执行所述方法的计算机程序、包括所述计算机程序的计算机可读介质、和用于仿真退化的连接器元件的仿真模型来仿真由连接器元件的老化导致的退化状态。