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微流控芯片立体流场流速矢量的测量方法及系统

摘要

本发明公开了微流控芯片立体流场流速矢量的测量方法及系统。将谱域光学相干层析技术(SD-OCT)和多普勒效应相结合,并在此基础上运用窄带相位片。谱域OCT通过干涉光谱的并行探测来实现对微流控芯片流场深度信息的提取,成像速度较常规的时域OCT大为提高。综合利用多普勒频移和多普勒展宽,并在成像探头的准直镜和聚焦透镜之间插入窄带相位片,实施多普勒信息的空间编码,实现空间高分辨三维速度矢量的成像要求,再结合基于相位分辨技术的多普勒OCT方法则能够满足高速度高灵敏度的测量要求,最终实现对微流控芯片立体流场的高分辨率、高速度、高灵敏度、大成像范围的速度矢量成像。

著录项

  • 公开/公告号CN100588969C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2010-02-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN200810063438.9

  • 发明设计人 丁志华;陈明惠;孟婕;朱瑛;

    申请日2008-08-05

  • 分类号G01P5/26(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人林怀禹

  • 地址 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-09-18

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01P 5/26 授权公告日:20100210 终止日期:20120805 申请日:20080805

    专利权的终止

  • 2010-02-10

    授权

    授权

  • 2009-02-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-12-31

    公开

    公开

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