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图像检查装置、缺陷检测方法及缺陷检测程序

摘要

图像检查装置、缺陷检测方法及缺陷检测程序。当预先准备的明暗度特性与检查用成像设备的明暗度特性不同时,会存在错误判断的问题。所以提供了一种缺陷检测方法。该方法包括:通过以规定行数为单位进行分割,将由M行N列个像素形成的数字图像划分为多个带状区域;对于所述多个带状区域的每一个,针对各列来对所述带状区域中的像素的浓淡值求平均;计算近似线,该近似线在所述多个带状区域的每一个中近似于所述浓淡值的平均值的分布;并且判断是否存在如下连续的d个列,在所述连续的d个列中,从所述近似线得到的所述浓淡值与针对各列的所述浓淡值的平均值之间的差值超出一指定阈值。

著录项

  • 公开/公告号CN100491952C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号CN200510091917.8

  • 发明设计人 芳贺进;

    申请日2005-08-12

  • 分类号G01M11/00(20060101);G06T1/00(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄纶伟

  • 地址 日本神奈川县川崎市

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-10-26

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/00 授权公告日:20090527 终止日期:20100812 申请日:20050812

    专利权的终止

  • 2009-05-27

    授权

    授权

  • 2006-05-31

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-04-05

    公开

    公开

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