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基于离子束溅射沉积的六方氮化硼厚膜及制备方法和应用

摘要

本发明涉及薄膜材料和半导体材料领域,提供了一种基于离子束溅射沉积的六方氮化硼厚膜及制备方法和应用。本发明采用双离子束溅射沉积结合离子束清洗的方法,在衬底表面制备大面积的高质量六方氮化硼厚膜,克服了化学气相沉积方法制备六方氮化硼膜时通常使用有毒、易燃前驱体,解决了以往制备六方氮化硼厚膜时应力过大导致厚膜顶端开裂以及对衬底的附着力不好的问题,不使用催化金属合金等衬底过渡层和氮化物缓冲层,通过控制离子束溅射沉积的参数,制备的六方氮化硼厚膜的稳定性明显提高、结构更为有序、杂质含量极少、绝缘性良好、膜厚可达1μm。本发明制备的六方氮化硼厚膜可应用于电子和光电子器件中的绝缘层、保护层、介质层和散热层等。

著录项

  • 公开/公告号CN111676450B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 吉林大学;

    申请/专利号CN202010589908.6

  • 发明设计人 殷红;李冬冬;高伟;

    申请日2020-06-24

  • 分类号C23C14/06(20060101);C23C14/46(20060101);C23C14/02(20060101);

  • 代理机构22212 长春市恒誉专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李荣武

  • 地址 130012 吉林省长春市前进大街2699号

  • 入库时间 2022-08-23 12:43:21

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