一种利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法及系统

摘要

本发明公开了一种利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法及系统，方法包括获取垂直偏振散射光能分布Ε_⊥和水平偏振散射光能分布Ε_||，计算散射光能分布偏振差Ε_d；根据Mie理论，计算一个设定的折射率数值n⁽ⁱ⁾下的维数为k×l的垂直偏振散射光能矩阵和散射光偏振差矩阵计算被测颗粒的粒度分布W⁽ⁱ⁾，获取散射光的偏振差计算Ε_d与的均方差σ⁽ⁱ⁾，改变折射率的数值，重复上述过程，获得均方差最小的折射率，就是颗粒的真实折射率，使用此折射率计算的粒度分布即为颗粒真实的粒度分布，还提供了一种实现上述方法的系统，本发明在被测颗粒样品的折射率与粒度分布均未知的情况下，可利用激光粒度仪获得的散射光信号本身，求出样品的折射率，进而获得准确的样品粒度分布。