首页> 中国专利> 光学元件制造方法、光学元件、尼普科夫盘、共焦光学系统以及三维测量装置

光学元件制造方法、光学元件、尼普科夫盘、共焦光学系统以及三维测量装置

摘要

一种光学元件制造方法包括:设置遮光层(14),该遮光层包括在用作基底件的基质上的作为最上层的至少Si层;在遮光层(14)上形成光学孔径(14a);以及通过干法蚀刻在最上层的表面上形成微小的凹进/凸起结构。

著录项

  • 公开/公告号CN100458470C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-02-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社尼康;

    申请/专利号CN200580037028.1

  • 发明设计人 浜村宽;门松洁;雨宫升;

    申请日2005-10-24

  • 分类号G02B5/00(20060101);G02B5/02(20060101);G01B11/24(20060101);G02B21/00(20060101);

  • 代理机构11219 中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人刘建功;车文

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-02-04

    授权

    授权

  • 2007-11-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-10-03

    公开

    公开

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