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公开/公告号CN109073574B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-25
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社理学;
申请/专利号CN201680082737.X
发明设计人 虎谷秀穗;姬田章宏;
申请日2016-12-22
分类号G01N23/207(20060101);
代理机构11300 北京瑞盟知识产权代理有限公司;
代理人刘昕
地址 日本国东京都昭岛市松原町3丁目9番12号
入库时间 2022-08-23 12:01:45
机译: 晶相定量分析装置,晶相定量分析方法和晶相定量分析程序
机译:X边缘衍射的Rietveld分析定量分析耐火材料中的晶相和非晶相
机译:结晶相的定量分析,并通过X衍射边缘的Rietveld分析耐火材料的非晶相
机译:Si纳米线多型体及其同质结的晶相效应
机译:内标法对渣中非晶相进行Rietveld定量分析
机译:光学方法定量分析高纯度砷化镓,重掺杂砷化镓和铝砷化镓/砷化镓异质结器件
机译:同步加速型X射线层析成像技术定量分析水泥浆中纳米晶相的纠缠
机译:Si纳米线多晶型及其同质结的晶相效应
机译:通过强烈的高压等离子体产生的氮化碳膜中的结晶相和非晶相