首页> 中国专利> 一种校正测量数据显著误差与随机误差的方法

一种校正测量数据显著误差与随机误差的方法

摘要

本发明公开了一种校正测量数据显著误差与随机误差的方法。该方法首先利用贝叶斯法则从历史数据中对提取测量仪表的可靠性,然后将可靠性引入显著误差检测中作为确定确定检测误差的基准。利用在显著误差检测中获得的信息,减少数据校正的计算量。本发明的优点:利用仪表的历史运行数据作为可靠性的基础,从而通过确定一批可靠性较高的仪表来减少计算量;考虑了基准中出现显著误差的情况,通过更新可靠性来处理基准中的显著误差,从而改善显著误差检出率;利用较少的计算量得到显著误差候选集,改善显著误差检测效率;通过共用关联矩阵的方法将显著误差检测与数据校正联系起来,降低数据校正步骤的计算复杂度。

著录项

  • 公开/公告号CN100440200C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-12-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN200710066837.6

  • 申请日2007-01-24

  • 分类号G06F17/00(20060101);G06F19/00(20060101);G01D3/028(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人韩介梅

  • 地址 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-03-25

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F 17/00 授权公告日:20081203 终止日期:20140124 申请日:20070124

    专利权的终止

  • 2008-12-03

    授权

    授权

  • 2007-09-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-08-01

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号