一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法

摘要

本发明公开了一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法，包括如下步骤：采用溶剂擦拭待测陶瓷涂覆隔膜表面，直至露出基膜得到隔膜a；将隔膜a分为对照组和至少一个实验组，再将实验组升温至120‑140℃，保温0.8‑1.2h，得到隔膜b；将隔膜b进行称重，计算其面积，计算基膜基重；将隔膜b制成待测样品，喷金，置于扫描电子显微镜样品仓中，拍摄基膜形貌以判断待测陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下的状态。本发明解决了陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下状态无法评测的问题，通过各种评测方法可以判断基膜状态是否正常，是判断陶瓷涂覆隔膜闭孔温度的重要依据，方法简便，对基膜无破坏性。