一种基于相移技术的三维重构无效区域快速定位方法

摘要

本发明涉及结构光3D测量技术领域，具体为一种基于相移技术的三维重构无效区域快速定位方法，包括如下步骤：S1、采用多步相移技术进行投影测量；S2、利用相机捕获变形多步相移变形条纹图，定位高光条纹过饱和区域；S3、计算多步相移变形条纹图，对标准差进行阈值判断，定位条纹信息缺失区域；S4、对高光区域和阴影区域进行形态学处理，获得最终三维重构无效区域。该方法利用条纹投影技术中已有的多步相移条纹图，在无需额外增加测量步骤的前提下，能够快速、准确的定位三维重构无效区域，为3D数据后期处理中无效数据裁剪、高反区域补偿以及背景区域移除等提供了重要的位置信息。