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具有利用超薄介质击穿现象的存储器的智能卡

摘要

一种具有利用超薄介质击穿现象的存储器的智能卡,系一种具有改进的不挥发性存储器的智能卡。智能卡可包括一个处理器和存储器。存储器由大量的存储器单元构成。这些半导体存储器单元每一个都有一个在一种超薄介质(如栅氧化层)周围构成的数据存储元件。栅氧化层用于存储信息,其方法是通过给超薄介质加应力使其击穿(软击穿或硬击穿)建立起存储器单元的漏泄电流电平。存储器单元通过感测单元的吸收电流进行读出。一种适合的超薄介质是厚度为50埃或小于50埃的高质量栅氧化层,通常用现有的先进CMOS逻辑工艺可以实现。

著录项

  • 公开/公告号CN1259638C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 彭泽忠;

    申请/专利号CN01129150.8

  • 发明设计人 彭泽忠;

    申请日2001-12-06

  • 分类号

  • 代理机构绵阳市蜀北专利有限公司;

  • 代理人杨荫茂

  • 地址 621000 四川省绵阳市高新区绵兴东路96号1楼绵阳凯路微电子有限公司

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-06-14

    授权

    授权

  • 2002-08-21

    公开

    公开

  • 2002-05-29

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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