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一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法

摘要

本发明涉及一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法,其包括步骤:进行井‑震标定,并提取优化目标区多井子波;以井‑震标定为基础,建立高分辨率层序地层格架;根据目的层地震数据、地质先验数据、测井数据,构建以高分辨率层序地层格架为基础的地质低频模型,并进行高分辨率层序地层格架约束下的稀疏脉冲反演,得到稀疏脉冲反演数据体;以曲流河地质知识库为基础,结合目的层测井数据和地震特征数据,采用高分辨率层序地层格架为约束选取优化目的层砂地比和水平变程,并进行高分辨率层序地层格架约束下的地质统计学反演;基于最终的地质统计学反演结果,运用GR测井曲线对储层进行精细标定,并运用基于反演结果提取的地震属性来预测储集砂体平面展布。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-10

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01V 11/00 变更前: 变更后: 变更前: 变更后: 申请日:20150909

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2017-06-09

    授权

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  • 2017-06-09

    授权

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  • 2016-01-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 11/00 申请日:20150909

    实质审查的生效

  • 2016-01-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 11/00 申请日:20150909

    实质审查的生效

  • 2015-12-23

    公开

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  • 2015-12-23

    公开

    公开

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