法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-03-17
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):F26B 9/10 专利号:ZL2021206901204 申请日:20210406 授权公告日:20211102
专利权的终止
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 一种自由测量样品磁性能的方法和一种自由测量样品磁性能的装置
机译: 一种检测气体样品中至少一种气味的方法,包括:至少部分减少气体样品中的水量;检测样品中是否有异味;并且描述了用于检测和/或测量气体样本中的气味的装置。