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一种集合多种抗扰度测试标准的低频抗扰度综合测试装置

摘要

本实用新型提供一种集合多种抗扰度测试标准的低频抗扰度综合测试装置,包括装置本体,装置本体上设有带多个仪器输出接口的仪器输出器,装置本体上设置有MCU主控模块、显示屏、信号发生模块和信号测量模块;信号测量模块用于对信号发生模块输出信号的测量与监控,MCU主控模块通过开关切换控制电路控制仪器输出器上其中一个仪器输出接口与信号发生模块输出端连通。本实用新型MCU主控模块能控制信号发生模块输出多种抗扰度测试信号,在选取测试信号参数和标准后,MCU主控模块通过信号测量模块对信号测量与监控,同时MCU主控模块能根据用户设置自动切换对应的仪器输出接口导通来进行相应的信号测试输出,本实用新型装置极大的提高了测试的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN213750130U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202022613497.8

  • 发明设计人 李绍鹏;叶志武;周竞恒;

    申请日2020-11-12

  • 分类号G01R31/00(20060101);G01R1/28(20060101);

  • 代理机构42280 武汉尚智联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人熊军

  • 地址 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区茅店村博瀚科技光电子信息产业基地二期1幢A单元15层8号

  • 入库时间 2022-08-22 23:02:20

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