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一种聚焦离子束双束电子显微镜系统及其样品台

摘要

本实用新型提供一种聚焦离子束双束电子显微镜系统及其样品台,样品台包括样品台本体,用于承载样品;支撑柱,设置在所述样品台本体的底部,用于支撑所述样品台本体;其中,样品台本体包括具有第一部分和第二部分,第一部分形成具有顶部水平面的平台结构,第二部分由所述平台结构的第一端延伸形成,并且包括自所述顶部水平面向下延伸形成的斜面结构。斜面结构与水平面的夹角介于0~90°。可以根据实际需要设定该夹角的大小。通过设定该夹角的大小,当样品放置在该斜面结构上时,自然地呈倾斜状,该倾斜能够抵消采用FIB方法对样品进行加工时由于样品不同层的材料不同造成的切割条纹倾斜问题,得到理想的条纹图案。

著录项

  • 公开/公告号CN210167321U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-03-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 芯恩(青岛)集成电路有限公司;

    申请/专利号CN201920988838.4

  • 发明设计人 杜冰;

    申请日2019-06-28

  • 分类号

  • 代理机构北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈敏

  • 地址 266555 山东省青岛市黄岛区中德生态园团结路2877号ICIC办公楼4楼

  • 入库时间 2022-08-22 12:51:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-20

    授权

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