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X线分析装置以及X线分析方法

摘要

本发明提供X线分析装置以及X线分析方法,能够以高作业效率、安全地进行试样测定。作为解决手段,使用了这样的X线分析装置,其特征在于,具有:放射线源,其向试样上的照射点照射放射线;X线检测器,其检测从试样放出的特性X线以及散射X线,输出包含特性X线以及散射X线的能量信息的信号;分析器,其对信号进行分析;载置试样的试样载置台;移动机构,其能够使试样载置台上的试样与放射线源及X线检测器相对地移动;高度测定机构,其能够测定试样上的照射点的高度;以及控制部,其根据测定到的试样上的照射点的高度,控制移动机构,调整试样与放射线源及X线检测器之间的距离。

著录项

  • 公开/公告号CN102004113B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本株式会社日立高新技术科学;

    申请/专利号CN201010265255.2

  • 发明设计人 高原稔幸;

    申请日2010-08-26

  • 分类号G01N23/223(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄纶伟;吕俊刚

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:21:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-08

    授权

    授权

  • 2014-08-20

    著录事项变更 IPC(主分类):G01N 23/223 变更前: 变更后: 申请日:20100826

    著录事项变更

  • 2012-10-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20100826

    实质审查的生效

  • 2011-04-06

    公开

    公开

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