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ALD制备GaAs基MOS器件中的原位表面钝化方法

摘要

本发明公开了一种ALD制备GaAs基MOS器件中的原位表面钝化方法,首先清洗GaAs衬底,之后在HCl水溶液中浸泡3~5分钟,接着在(NH

著录项

  • 公开/公告号CN102492932B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-01-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京大学;

    申请/专利号CN201110394348.X

  • 发明设计人 李学飞;李爱东;曹燕强;吴迪;

    申请日2011-12-02

  • 分类号

  • 代理机构江苏圣典律师事务所;

  • 代理人贺翔

  • 地址 210093 江苏省南京市汉口路22号

  • 入库时间 2022-08-23 09:17:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-20

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C23C 16/02 授权公告日:20140108 终止日期:20141202 申请日:20111202

    专利权的终止

  • 2014-01-08

    授权

    授权

  • 2012-07-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C 16/02 申请日:20111202

    实质审查的生效

  • 2012-06-13

    公开

    公开

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