首页> 中国专利> 定量化薄层地层的电阻率和含烃饱和度的方法

定量化薄层地层的电阻率和含烃饱和度的方法

摘要

一种估算层状地下地层中烃体积的方法,包括测定地层中的垂直电阻率和水平电阻率。测定地层各层的束缚水饱和度和总孔隙度。根据各层的束缚水饱和度和总孔隙度以及各层的估算的束缚水总体积,计算地层的水平电阻率值和垂直电阻率值。将这些估算值与测定的水平电阻率和垂直电阻率进行比较。调整各层中所估算的束缚水饱和度并反复估算该值,直到估算值与测定的垂直电阻率和水平电阻率值之间的差值降到所选的阈值以下。由各层经调整的束缚水饱和度估算烃体积。

著录项

  • 公开/公告号CN101363315B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 普拉德研究及开发股份有限公司;

    申请/专利号CN200810210273.3

  • 发明设计人 戴维·F·艾伦;格奥吉·博达科夫;

    申请日2008-08-11

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人封新琴

  • 地址 英属维尔京群岛多多拉岛

  • 入库时间 2022-08-23 09:16:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):E21B 49/00 授权公告日:20131106 终止日期:20170811 申请日:20080811

    专利权的终止

  • 2013-11-06

    授权

    授权

  • 2013-11-06

    授权

    授权

  • 2010-09-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):E21B49/00 申请日:20080811

    实质审查的生效

  • 2010-09-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):E21B 49/00 申请日:20080811

    实质审查的生效

  • 2009-02-11

    公开

    公开

  • 2009-02-11

    公开

    公开

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