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一种具有高Ge组分的应变SiGe层的制备方法

摘要

一种具有高锗(Ge)组分的应变锗硅(SiGe)层的制备方法,属于半导体技术领域,特别涉及应变锗硅(SiGe)层的制备。所述方法包括以下步骤:准备硅(Si)衬底;采用传统生长应变Si层的方法在Si衬底上长一层具有少量应变并且质量较好的应变Si层,采用化学气相淀积(CVD)或分子束外延(MBE)等外延技术在上述生长好的应变Si层上外延一层含有高Ge组分的应变SiGe层。本发明通过在应变Si层上外延SiGe层,利用应变Si中的应变缓解上层SiGe层中的应变,使得SiGe层中缺陷更少,这样Ge组分可以更高,所涉及的设备,工艺等,都是最常见最普通的半导体工艺,因此,本发明不但具有高锗的应变锗硅层,而且具有制作简单,成本低的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN102403202B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-05-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201110408312.2

  • 发明设计人 王向展;王微;秦桂霞;曾庆平;

    申请日2011-12-09

  • 分类号

  • 代理机构成都科海专利事务有限责任公司;

  • 代理人盛明洁

  • 地址 610054 四川省成都市建设北路二段4号电子科技大学

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/205 授权公告日:20130515 终止日期:20141209 申请日:20111209

    专利权的终止

  • 2013-05-15

    授权

    授权

  • 2012-06-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/205 申请日:20111209

    实质审查的生效

  • 2012-04-04

    公开

    公开

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