首页> 中国专利> 一种利用X射线荧光光谱测定铬矿中化学组成的方法

一种利用X射线荧光光谱测定铬矿中化学组成的方法

摘要

本发明提供一种利用X射线荧光光谱测定铬矿中化学组成的方法。该方法将熔融法与压片法相结合,在坩埚中只加入铬矿试样与熔剂,加热熔融,然后冷却粉粹,再压片制备得到铬矿样品,然后利用X射线荧光光谱测定样品中化学组成。与现有技术相比,该方法成本低、简单易行,具有高检测准确度,并且能够对低含量元素有较好的检出限。

著录项

  • 公开/公告号CN113533401A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 宁波新材料测试评价中心有限公司;

    申请/专利号CN202110749055.2

  • 发明设计人 时晓露;许姝菡;杨秋;余立架;

    申请日2021-07-01

  • 分类号G01N23/2202(20180101);G01N23/223(20060101);

  • 代理机构33291 宁波元为知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人单英

  • 地址 315042 浙江省宁波市高新区沧海路189弄2号

  • 入库时间 2023-06-19 12:57:44

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号