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公开/公告号CN113155954A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-07-23
原文格式PDF
申请/专利权人 佛山科学技术学院;
申请/专利号CN202110443778.X
发明设计人 何宽芳;梁家和;雍江枫;蒋勉;陈勇;师文庆;
申请日2021-04-23
分类号G01N27/90(20210101);G06N3/02(20060101);
代理机构11543 北京八月瓜知识产权代理有限公司;
代理人李斌
地址 528231 广东省佛山市南海区广云路33号
入库时间 2023-06-19 11:57:35
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-07-21
授权
发明专利权授予
机译: 用于半导体装置的缺陷检测的过滤器提取装置及其方法,以及使用该装置的缺陷检测系统
机译: 结构缺陷检测系统及结构缺陷检测方法
机译: 用于缺陷检查,缺陷检测系统,薄膜制造设备,缺陷检测,缺陷检测方法和薄膜制造方法的成像装置
机译:设计用于结构缺陷检测系统的诊断数据流的方法论
机译:适用于纳米级先进半导体的Lasertec掩模毛坯缺陷检测系统7-10
机译:一种新型的铝带表面检测系统的非均匀校正缺陷检测方法
机译:用于导体缺陷检测系统的三维微位移控制系统
机译:使用双分类器方法开发了一种用于高速公路的新型自动事件检测系统。
机译:扫描声显微镜(SAM):一种用于医学成像的超声探头制造过程中缺陷检测的可靠方法
机译:一种用于检查薄壁不锈钢管的脉冲涡流方法
机译:用于制氢和分离的混合离子和电子导体:一种新方法。报告从2003年10月1日到2006年12月31日