一种用于半导体分立器件的综合老化试验箱

摘要

本发明涉及分立器件老化试验技术领域，具体涉及一种用于半导体分立器件的综合老化试验箱，包括试验箱底台，试验箱底台的底端面通过螺栓固定有若干个可调脚，试验箱底台的上端固定有老化试验箱本体，老化试验箱本体包括上箱体和下箱体，上箱体的内部设有控制室及两个第一腔体，控制室的内部安装有控制箱，且其前端安装有固定门板，固定门板的正面设置有显示屏、工作状态指示区及控制按键区，两个第一腔体的前端均通过铰链安装有上密封门；下箱体的内部开设有两个第二腔体，且两个第二腔体的前端均通过铰链安装有下密封门；本发明可带动老化座做顺时针及逆时针往复转动，从而使得半导体分立器件受热更加均匀，得到的老化试验数据也更加精确。

说明书

技术领域

本发明涉及分立器件老化试验技术领域，具体涉及一种用于半导体分立器件的综合老化试验箱。

背景技术

随着半导体分立器件技术及其产业的发展，带动了计算机技术、软件技术、通信技术、信息技术等高新技术的发展，为国民经济各个产业的发展和现代化建设提供了良好的基础，加快了传统产业结构的升级，实现了传统手工产业的信息化及自动化的改造，同时国民经济各个产业的发展又给半导体技术及其产业的发展提供了广大的发展空间与机遇。导体分立器件具有很强的通用性、广泛的应用面，而且其具备大功率、高电压、大电流、高速、高灵敏以及低噪声等特点及优势。

现有的半导体分立器件在出厂之前需要使用综合老化试验箱进行老化测试，若满足技术要求，才能出厂销售；而对于不满足技术要求的半导体分立器件需要对其进行分析，并找出原因。但是现有的半导体分立器件安装在综合老化试验箱内部通常是固定不动的，但是受热老化不均匀，易存在受热死角，从而导致得到的老化数据存在较大的误差；同时在老化试验结束后，试验箱内部及其内部安装的半导体分立器件难以快速冷却，工作效率低。

发明内容

本发明针对背景技术所提出的问题，设计了一种用于半导体分立器件的综合老化试验箱。

本发明是通过以下技术方案实现的：

一种用于半导体分立器件的综合老化试验箱，包括试验箱底台，所述试验箱底台的底端面通过螺栓固定有若干个可调脚，所述试验箱底台的上端固定有老化试验箱本体，所述老化试验箱本体包括上箱体和下箱体，所述上箱体的内部设有控制室及两个第一腔体，所述控制室的内部安装有控制箱，且其前端安装有固定门板，所述固定门板的正面设置有显示屏、工作状态指示区及控制按键区，两个所述第一腔体的前端均通过铰链安装有上密封门；所述下箱体的内部开设有两个第二腔体，且两个所述第二腔体的前端均通过铰链安装有下密封门；

所述第一腔体与所述第二腔体的顶面均等间距固定有若干个上轴承座，所述第一腔体与所述第二腔体的底面均等间距固定有若干个下轴承座同时还安装有一个驱动机构，所述上轴承座与其上下正对应的所述下轴承座之间转动安装有转轴，所述转轴的外壁安装有老化座，所述老化座的正面及左、右侧面均开设有若干个分立器件安装口，所述老化座的顶端通过导线与所述控制箱电性连接，所有的所述转轴的外壁均固定有从动齿轮；所述第一腔体与所述第二腔体的内侧壁均安装有反光片，所述反光片的外壁固定有若干个加热灯管；

所述上箱体和所述下箱体之间安装有隔离台，所述隔离台的中部开设有风冷腔，所述风冷腔的内部安装有排风电机，所述排风电机的输出端固定安装有排风扇叶，所述风冷腔的顶端连通有竖向风道，所述竖向风道的顶端连通有水平风道，所述水平风道的顶端连通有若干个上出风道，所述水平风道的底端连通有若干个下出风道。

作为上述方案的进一步改进，所述驱动机构包括水平滑轨、滑动框架、驱动电机、不完全齿轮及主动齿条，所述水平滑轨通过四个立杆固定安装于所述一腔体或者所述第二腔体的底面上，所述水平滑轨的底端面中心位置安装有所述驱动电机，所述驱动电机的驱动轴贯穿所述水平滑轨底板并固定连接有所述不完全齿轮，所述水平滑轨内部滑动安装有所述滑动框架，所述滑动框架的前、后内壁均固定有从动齿条，所述从动齿条与所述不完全齿轮之间为啮合连接，所述滑动框架的两端均固定有L形连接杆，一对所述L形连接杆的外端共同固定有直杆，所述直杆滑动安装于一对滑套内部，所述直杆的前端面固定有所述主动齿条，所述主动齿条与对应腔体内部所有的所述转轴外壁固定的从动齿轮啮合连接。

作为上述方案的进一步改进，所述滑动框架包括前杆、后杆、左弧形杆和右弧形杆，所述前杆、后杆分别滑动安装于所述水平滑轨的轨道槽内部。

作为上述方案的进一步改进，所述第一腔体及所述第二腔体的顶面均固定有温度感应器，所述温度感应器的信号输出端与所述显示屏电性连接。

作为上述方案的进一步改进，所述第一腔体及所述第二腔体的左、右内壁上还均开设有一列竖向分布的通风孔，且该列所述通风孔内部右上而下贯穿转动设置有一个转动杆，所述转动杆的外壁固定有若干个密封盖，所述密封盖均配合安装于所述通风孔内部。

作为上述方案的进一步改进，所述上箱体及下箱体的左、右外壁均开设有散热窗，所述散热窗正对所述通风孔。

作为上述方案的进一步改进，所述上密封门和所述下密封门的外表面均嵌设有观察窗，所述上密封门和所述下密封门的外表面均还固定有拉手，所述上密封门和所述下密封门的内表面均固定有密封条。

作为上述方案的进一步改进，每一个所述上出风道均与所述第一腔体相连通，每一个所述下出风道均与所述第二腔体相连通，所述上出风道与所述下出风道的出风口均安装有挡尘网。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1、本发明中，在第一腔体与第二腔体的底面均设置有驱动机构，驱动机构中驱动电机通电后会带动直杆及主动齿条做左右往复运动，主动齿条又与转轴外壁固定的从动齿轮啮合连接，进一步可带动所有的转轴及老化座做顺时针及逆时针往复转动，半导体分立器件安装于老化座上，从而使得半导体分立器件受热更加均匀，得到的老化试验数据也更加精确。

2、本发明中，隔离台的中部开设有风冷腔，风冷腔的内部安装有排风电机，排风电机通电后，即可带动排风扇叶高速旋转并产生气流，气流经竖向风道流向水平风道，水平风道的与若干个上出风道及下出风道相连通，气流最终能流向第一腔体与第二腔体，从而在半导体分立器件老化结束后，可打开密封门并启动排风电机，即可快速对综合老化试验箱内部及半导体分立器件进行冷却，且冷却速度快，提高工作效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的立体结构示意图；

图2为本发明中上箱体的立体结构示意图；

图3为本发明中第一腔体内部驱动机构及老化座的连接示意图；

图4为本发明中驱动机构的立体结构示意图；

图5为本发明图4的另一视角立体结构示意图；

图6为本发明中滑动框架及不完全齿轮的安装示意图；

图7为本发明的正视图；

图8为本发明中隔离台的内部结构示意图；

图9为本发明所有密封门关闭后的结构示意图；

图10为本发明实施例2的立体结构示意图；

图11为本发明实施例2的上箱体左侧壁的内部结构示意图。

其中，1-试验箱底台，2-可调脚，3-上箱体，4-下箱体，5-控制室，6-第一腔体，7-控制箱，8-驱动机构，9-固定门板，10-显示屏，11-作状态指示区，12-控制按键区，13-上密封门，14-第二腔体，15-下密封门，16-上轴承座，17-下轴承座，18-转轴，19-老化座，20-分立器件安装口，21-从动齿轮，22-反光片，23-加热灯管，24-隔离台，25-风冷腔，26-排风电机，27-排风扇叶，28-竖向风道，29-水平风道，30-上出风道，31-下出风道，32-手轮，33-通风孔，34-转动杆，35-密封盖，36-散热窗，37-观察窗，38-拉手，39-挡尘网；

81-水平滑轨，82-滑动框架，821-前杆，822-后杆，823-左弧形杆，824-右弧形杆，83-驱动电机，84-不完全齿轮，85-主动齿条，86-从动齿条，87-直杆，88-滑套，89-滑套。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本申请中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本发明及其实施例，并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位，或以特定方位进行构造和操作。

并且，上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外，还可能用于表示其他含义，例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解这些术语在本发明中的具体含义。

此外，术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”、“套接”应做广义理解。例如，可以是固定连接，可拆卸连接，或整体式构造；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面结合附图对本发明进一步说明。

实施例1

一种用于半导体分立器件的综合老化试验箱，如图1、图2及图9所示，包括试验箱底台1，试验箱底台1的底端面通过螺栓固定有若干个可调脚2，试验箱底台1的上端固定有老化试验箱本体，老化试验箱本体包括上箱体3和下箱体4，上箱体3的内部设有控制室5及两个第一腔体6，控制室5的内部安装有控制箱7，且其前端安装有固定门板9，固定门板9的正面设置有显示屏10、工作状态指示区11及控制按键区12，两个第一腔体6的前端均通过铰链安装有上密封门13；下箱体4的内部开设有两个第二腔体14，且两个第二腔体14的前端均通过铰链安装有下密封门15；上密封门13和下密封门15的外表面均嵌设有观察窗37，上密封门13和下密封门15的外表面均还固定有拉手38，上密封门13和下密封门15的内表面均固定有密封条。

如图2和图3所示，第一腔体6与第二腔体14的顶面均等间距固定有若干个上轴承座16，第一腔体6与第二腔体14的底面均等间距固定有若干个下轴承座17同时还安装有一个驱动机构8，上轴承座16与其上下正对应的下轴承座17之间转动安装有转轴18，转轴18的外壁安装有老化座19，老化座19的正面及左、右侧面均开设有若干个分立器件安装口20，分立器件安装口20的形状规格可设置成多种，从而可适用于各种封装形式的中、小功率二极管、三极管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等等元器件的稳态寿命试验和间歇寿命试验；老化座19的顶端通过导线与控制箱7电性连接，所有的转轴18的外壁均固定有从动齿轮21；第一腔体6与第二腔体14的内侧壁均安装有反光片22，反光片22的外壁固定有若干个加热灯管23，加热灯管23通电发光会形成热辐射，即可实现对半导体分立器件进行高温老化，反光片22的设置使得光辐射更加均匀，减少了死角；如图7所示，第一腔体6及第二腔体14的顶面均固定有温度感应器32，温度感应器32的信号输出端与显示屏10电性连接，温度感应器32能系统检测记录试验腔体的温度，可生成温度变化曲线，并具有超温保护功能；

如图1和图8所示，上箱体3和下箱体4之间安装有隔离台24，隔离台24的中部开设有风冷腔25，风冷腔25的内部安装有排风电机26，排风电机26的输出端固定安装有排风扇叶27，风冷腔25的顶端连通有竖向风道28，竖向风道28的顶端连通有水平风道29，水平风道29的顶端连通有若干个上出风道30，水平风道29的底端连通有若干个下出风道31；每一个上出风道30均与第一腔体6相连通，每一个下出风道31均与第二腔体14相连通，上出风道30与下出风道31的出风口均安装有挡尘网39。

其中，如图4～6所示，驱动机构8包括水平滑轨81、滑动框架82、驱动电机83、不完全齿轮84及主动齿条85，水平滑轨81通过四个立杆固定安装于一腔体或者第二腔体14的底面上，水平滑轨81的底端面中心位置安装有驱动电机83，驱动电机83的驱动轴贯穿水平滑轨81底板并固定连接有不完全齿轮84，水平滑轨81内部滑动安装有滑动框架82，滑动框架82的前、后内壁均固定有从动齿条86，从动齿条86与不完全齿轮84之间为啮合连接，滑动框架82的两端均固定有L形连接杆89，一对L形连接杆89的外端共同固定有直杆87，直杆87滑动安装于一对滑套88内部，直杆87的前端面固定有主动齿条85，主动齿条85与对应腔体内部所有的转轴18外壁固定的从动齿轮21啮合连接；滑动框架82包括前杆821、后杆822、左弧形杆823和右弧形杆824，前杆821、后杆822分别滑动安装于水平滑轨81的轨道槽内部。

本实施例在使用时，先打开上箱体3上的上密封门13及下箱体4上的下密封门15，然后依次将封装形式的中、小功率二极管、三极管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等等半导体分立器件分别安装于老化座19外表面开设的分立器件安装口20内部，再关上上密封门13及下密封门15，再通过控制按键区12对试验电流、电压参数上限、老化温度及老化时间设定，显示屏10能实时监测显示老化参数（I、V、Ta）及老化时间、老化进度；在老化的过程中，驱动电机83处于工作状态，驱动电机83会带动不完全齿轮84以一定速度转动，不完全齿轮84顺时针转动到与滑动框架82的前内壁的从动齿条86啮合连接时，即可带动滑动框架82沿着水平滑轨81内部向左移动，不完全齿轮84顺时针转动到与滑动框架82的后内壁的从动齿条86啮合连接时，即可带动滑动框架82沿着水平滑轨81内部向右移动，从而完全齿轮84转动即可带动滑动框架82沿着水平滑轨81内部往复左右运动，滑动框架82的两端均通过L形连接杆89与直杆87相固定，直杆87的前端面固定有主动齿条85，主动齿条85又与转轴18外壁固定的从动齿轮21啮合连接，进一步可带动所有的转轴18及老化座19做顺时针及逆时针往复转动，半导体分立器件安装于老化座19上，从而使得半导体分立器件受热更加均匀，得到的老化试验数据也更加精确；在半导体分立器件老化结束后，可打开密封门并启动排风电机26，排风电机26通电后，即可带动排风扇叶27高速旋转并产生气流，气流经竖向风道28流向水平风道29，水平风道29的与若干个上出风道30及下出风道31相连通，气流最终能流向第一腔体6与第二腔体14，即可快速对综合老化试验箱内部及半导体分立器件进行冷却，且冷却速度快，提高工作效率。

实施例2

实施例2在实施例1的基础上，如图10和图11所示，第一腔体6及第二腔体14的左、右内壁上还均开设有一列竖向分布的通风孔33，且该列通风孔33内部右上而下贯穿转动设置有一个转动杆34，转动杆34的外壁固定有若干个密封盖35，密封盖35均配合安装于通风孔33内部；上箱体3及下箱体4的左、右外壁均开设有散热窗36，散热窗36正对通风孔33。

本实施例在半导体分立器件老化结束后，在打开密封门的同时，还能进一步打开密封盖35，使的通风孔33、散热窗36与老化试验箱内部相连通，再结合排风电机26的作用能进一步加快对综合老化试验箱内部及半导体分立器件进行冷却；其中，针对一列竖向分布的通风孔33，只需要翻开单个密封盖35，在转动杆34的作用下即可带动整列的密封盖35转动，使得操作更加简便、省力。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。