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储存测试图案信息的存储模块、包括其的计算机系统及其测试方法

摘要

一种存储模块,包括:至少一个半导体存储装置;以及测试图案存储器,其储存用于测试至少一个半导体存储装置的第一测试图案信息,并且储存在测试图案存储器中的第一测试图案信息在测试操作中被传送至主机。通过具有上述功能的存储模块,考虑到存储模块的独特的弱特性,能够进行存储测试。

著录项

  • 公开/公告号CN112233719A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN202010320795.X

  • 发明设计人 吴知赫;姜志锡;郑俊镐;

    申请日2020-04-22

  • 分类号G11C29/36(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人张婧

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2023-06-19 09:33:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/36 专利申请号:202010320795X 申请日:20200422

    实质审查的生效

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