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一种基于硒化亚锡/硒化铟异质结的光电探测器及其制备方法

摘要

本发明涉及一种基于硒化亚锡/硒化铟异质结的光电探测器及其制备方法,其中,所述基于硒化亚锡/硒化铟异质结的光电探测器包括设置在衬底上的p型硒化亚锡薄膜和n型硒化铟薄膜,所述p型硒化亚锡薄膜和n型硒化铟薄膜之间设置有部分重叠区域,所述部分重叠区域通过范德华相互作用形成光电异质结,所述p型硒化亚锡薄膜和n型硒化铟薄膜不重叠的两端分别固定有一金属电极。本发明通过构建pn异质结,使p型硒化亚锡薄膜与n型硒化铟薄膜在光照条件下产生的电子与空穴在异质结处迅速分离,能够有效降低暗电流,明显提高所制备的光电探测器的光增益、光响应速度及光响应度。

著录项

  • 公开/公告号CN111799342A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳大学;

    申请/专利号CN202010709445.2

  • 发明设计人 李煜;晏雨发;张晗;李峰;

    申请日2020-07-22

  • 分类号H01L31/0336(20060101);H01L31/109(20060101);H01L31/18(20060101);

  • 代理机构44268 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人徐凯凯

  • 地址 518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号

  • 入库时间 2023-06-19 08:01:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-31

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L31/0336 专利申请号:2020107094452 申请公布日:20201020

    发明专利申请公布后的驳回

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