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用于测量介质中颗粒的特性的方法和用于测量烟道气中颗粒的特性的装置

摘要

本发明涉及一种用于通过测量被引导穿过介质的光线的散射来确定介质中颗粒特性的方法。光线(2)可以不止一次地被引导穿过散射区(4)。使用相同的传感器(6)测量散射的(5)和未散射的光两者。本发明还涉及一种用于测量诸如烟道气之类的介质中的颗粒的特性的测量装置。

著录项

  • 公开/公告号CN109073524A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 辛创有限公司;

    申请/专利号CN201780020985.6

  • 发明设计人 M.普洛克;

    申请日2017-03-30

  • 分类号G01N15/02(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人李湘;闫小龙

  • 地址 芬兰赫尔辛基

  • 入库时间 2023-06-19 07:54:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/02 申请日:20170330

    实质审查的生效

  • 2018-12-21

    公开

    公开

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