首页> 中国专利> 一种电磁屏蔽效能测试系统及其改善屏蔽效能的测试方法

一种电磁屏蔽效能测试系统及其改善屏蔽效能的测试方法

摘要

一种电磁屏蔽效能测试系统及其改善屏蔽效能的测试方法,电磁屏蔽效能测试系统包含屏蔽暗室以及设置在屏蔽暗室内的金属平板、信号源、发射天线、接收天线和接收机。采用金属平板代替小型屏蔽室,并调节金属平板在屏蔽暗室底面上的投影与屏蔽暗室的底面长边之间具有角度θ。本发明配置更简单,操作更便捷,克服了屏蔽暗室中电磁波反射叠加的缺陷,有效提高了测试精度。

著录项

  • 公开/公告号CN107462775A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海无线电设备研究所;

    申请/专利号CN201710532835.5

  • 申请日2017-07-03

  • 分类号G01R29/08(20060101);

  • 代理机构31249 上海信好专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人朱成之

  • 地址 200090 上海市杨浦区黎平路203号

  • 入库时间 2023-06-19 04:03:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/08 申请日:20170703

    实质审查的生效

  • 2017-12-12

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号