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电子元器件的电气特性测定方法以及电气特性测定装置

摘要

本发明提供一种具备高测定精度的电子元器件的电气特性测定方法。其包括:预先生成使测定端子和外部电极抵接时的荷重的大小、与电气特性的测定误差量之间的关系式的步骤;使测定端子和电子元器件的外部电极抵接,并利用测定器检测流过电子元器件的电信号,来测定电子元器件的电气特性并得到测定电气特性,同时利用荷重传感器测定该抵接时的荷重的大小并得到荷重值的步骤;以及基于关系式,根据荷重值的大小,来对测定电气特性进行校正的步骤。

著录项

  • 公开/公告号CN107430160A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社村田制作所;

    申请/专利号CN201680019744.5

  • 发明设计人 冈野慎介;

    申请日2016-03-23

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人熊风

  • 地址 日本京都府

  • 入库时间 2023-06-19 03:56:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-25

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R27/02 申请公布日:20171201 申请日:20160323

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2017-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/02 申请日:20160323

    实质审查的生效

  • 2017-12-01

    公开

    公开

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