首页> 中国专利> 缺陷分类装置、缺陷分类方法、控制程序和记录介质

缺陷分类装置、缺陷分类方法、控制程序和记录介质

摘要

缺陷分类装置(1)具备:分类指标算出部(14),其算出表示作为缺陷区域的一部分的外周区域中包含的像素的颜色和作为缺陷区域外的区域的与上述外周区域相邻的附近区域的像素的颜色之间的差异的特征量;以及缺陷分类部(15),其基于算出的上述特征量将上述缺陷区域的缺陷分类为膜内异物或者膜上异物。

著录项

  • 公开/公告号CN104508469A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 夏普株式会社;

    申请/专利号CN201380039119.3

  • 发明设计人 山田荣二;

    申请日2013-07-30

  • 分类号G01N21/956;G02F1/13;H01L21/66;

  • 代理机构北京市隆安律师事务所;

  • 代理人权鲜枝

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2023-12-18 08:15:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-10-12

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/956 申请公布日:20150408 申请日:20130730

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-05-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/956 申请日:20130730

    实质审查的生效

  • 2015-04-08

    公开

    公开

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