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一种实验室老化测试提醒装置

摘要

本发明公开了一种实验室老化测试提醒装置,用于被监控测试设备的老化测试,包括电源单元及与MCU单元相连的故障提醒单元、遥控指令发射单元、指令输入单元、声音监控单元和/或视频位图监控单元,电源单元为MCU单元以及与MCU单元相连的各单元供电,遥控指令发射单元用于控制被监控测试设备的工作状态,从而使用本发明产品的研发或品质人员在对电视机产品或相关音视频产品进行测试验证时,可以高效节省人力,能够及时准确的模拟用户状态,对产品进行长周期的老化测试、故障智能化仿真测试。

著录项

  • 公开/公告号CN104506849A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广东长虹电子有限公司;

    申请/专利号CN201410748221.7

  • 发明设计人 焦春生;

    申请日2014-12-08

  • 分类号H04N17/00;H04N17/04;

  • 代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司;

  • 代理人谭志强

  • 地址 528427 广东省中山市南头镇兴业北路1号

  • 入库时间 2023-12-18 08:10:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-08

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H04N17/00 申请公布日:20150408 申请日:20141208

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-05-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N17/00 申请日:20141208

    实质审查的生效

  • 2015-04-08

    公开

    公开

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