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低生长温度下提高化合物半导体中n型掺杂浓度的方法

摘要

一种低生长温度下提高化合物半导体中n型掺杂浓度的方法,包含下述步骤:利用MOCVD方法,在高的生长温度下,在衬底上生长缓冲层;将反应室温度降低至低的生长温度;以及减小通入反应室的反应源V/III比,保持掺杂源流量以及其它生长条件不变,生长n型掺杂的化合物半导体。

著录项

  • 公开/公告号CN1691285A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN200410035033.6

  • 发明设计人 江李;林涛;韦欣;王国宏;马骁宇;

    申请日2004-04-20

  • 分类号H01L21/205;H01L21/22;H01L21/331;H01L31/18;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汤保平

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-12-17 16:38:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-06-17

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2007-07-04

    授权

    授权

  • 2005-12-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-11-02

    公开

    公开

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