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法律状态
2007-10-24
专利权的终止未缴年费专利权终止
专利权的终止未缴年费专利权终止
2004-08-18
授权
授权
2002-02-06
公开
公开
2001-12-19
实质审查的生效
实质审查的生效
技术领域:本发明属于微电子领域MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)模型的参数提取技术。
背景技术:BSIM3V3模型(伯克利短沟道绝缘栅场效应晶体管模型第三代第三版)是一种得到广泛应用的MOSFET模型。阈值电压模型是BSIM3V3中的一个重要模型,模型方程为:
其中需要提取的参数有16个:VTH0,K1,K2,K3,K3B,W0,NLX,DVT0,DVT1,DVT2,DVT0W,DVT1W,DVT2W,DSUB,ETA0,ETAB。
目前对阈值电压模型的参数提取采用多区(Multi-bin)方法,器件按照几何尺寸划分成若干个区(bin),每个区对应一部分参数,在每个区按照器件的几何尺寸忽略某些效应。按照文献Y.Cheng and C.Hu,MOSFET Modeling &BSIM3 User’s Guide(Kluwer Academic Publishers,1999)所记载的方法,16个参数分成5组:(1)VTH0,K1,K2;(2)K3,K3B,W0;(3)NLX,DVT0,DVT1,DVT2;(4)DVT0W,DVT1W,DVT2W;(5)DSUB,ETA0,ETAB。参数提取分成5步进行,每一步对应一个区,在前面四步,模型公式按照当前区的器件尺寸忽略公式中的一些项,5组提取出的参数值合起来得到16个参数值。这种方法的缺点是没有考虑各组参数间的交叉影响,实现过程需要人工干预,准确性较差。
发明内容:
本发明的目的是提供一种不需人工干预,自动化程度高,准确性高的参数整体提取方法。
本发明的阈值电压模型参数提取方法是单区(Single-bin)方法,参数提取的过程是:
(1)器件选择:选择一组大尺寸器件和一组小尺寸器件,小尺寸器件选择不同长度(L)和不同宽度(W)的器件组合,大尺寸器件选择不同宽度(W)和相同长度(L)的器件,0.35μm≤L≤20μm,0.35μm≤W≤20μm,小尺寸器件的最少个数为四,大尺寸器件的最少个数为三;
器件选择的优化方案是选用7种尺寸的器件,其中小尺寸器件四个,W/L分别为0.35/0.35,0.35/0.5,0.5/0.35,0.5/0.5;大尺寸器件三个,W/L分别为5/20,10/20,20/20,单位为μm。
(2)得到观测值:测量在不同体偏压Vbs和漏偏压Vds下阈值电压Vth的值,得到一组阈值电压Vth的观测值,其中Vbs在-3到0(单位V)间取值,Vds在0到3(单位V)问取值。
(3)计算得到参数:考虑测量值和理论值的残差,采用可分离最小二乘法,16个参数分为9个线性参数VTH0,K1,K2,K3,K3B,DVT0,ETA0,ETAB,DVT0W和7个非线性参数W0,NLX,DVT1,DVT2,DSUB,DVT1W,DVT2W,对非线性参数的目标函数采用最小二乘问题的拟牛顿法进行优化,得到非线性参数的最优值,线性参数的最优值由非线性参数的最优值得到。
具体计算过程如下:
记阈值电压模型方程为:
Vth=f(Vbx,Vds,L,W,p)
p=(p1,p2,…,pn),n=16
残差是:
采用可分离最小二乘法,见文献G.H.Golub and V.Pereyra,SIAM J.Numer.Anal.,10,413(1973),16个参数分为9个线性参数VTH0,K1,K2,K3,K3B,DVT0,ETA0,ETAB,DVT0W和7个非线性参数W0,NLX,DVT1,DVT2,DSUB,DVT1W,DVT2W。对非线性参数的目标函数采用最小二乘问题的拟牛顿法进行优化,得到非线性参数的最优值,优化算法见文献J.E.Dennis Jr.,D.M.Gay and R.E.Welsch,ACM Transactions on Math.Software,7,348(1981),线性参数的最优值可由非线性参数的最优值得到。
可分离最小二乘法的过程如下:
对具有线性-非线性形式的模型:
p=(a,b),a=(a1,a2,...,al),b=(b1,b2,...,bnl)
其中a是线性参数,b是非线性参数。
最小二乘的残差是:
其中φ(b)是矩阵(φi(xk,b))kxi。
考虑b的函数:
Q2(b)=‖y-φ(b)φ+O)y‖2
其中φ+(b)是φ(b)的广义逆。设Q2(b)的最小点是b*,令a*=φ+(b*),则p*=(a*,b*)是Q(p)的最小点。
拟牛顿法是通用算法,故说明略。
实验验证结果:
(一)采用自洽方式,预先设定一组参数值p°,用设定值p°计算出的阈值电压值作为测量值,即:
Vth,k=f(Vbs,k,Vds,k,Lk,Wk,p°),k=1,2,...,m,m是Vth观测值的个数
用本发明的方法提取的参数值相对于设定值的误差小于0.02%。
(二)用设定值计算出的阈值电压值加上正态分布的随机误差(σ≤5mV)作为测量值,即
Vth,k=f(Vbs,k,Vds,k,Lk,Wk,p°)+N(0,σ2),k=1,2,.,m
在Dell OptiPlex上运行,得到全局极小点的时间不超过1分钟。
本发明的优点是实现了参数的整体提取,与文献Y.Cheng and C.Hu,MOSFETModeling & BSIM3 User’s Guide(Kluwer Academic Publishers,1999)所载多区方法比较,具有如下优点:(1)不需要人工干预,而多区方法需要为每一区设计简化的模型公式,计算开销较大;(2)准确度高,而多区方法存在模型简化带来的误差(相对误差约为1%),而单区方法的系统误差小的多(相对误差约为0.02%)。
附图说明:
图1为本发明的参数提取方法选用的器件示意图,图中·代表选用的器件,Lmin=0.35,Lmax=20,Wmin=0.35,Wmax=20(单位μm)。
实施例:
如附图1所示,选用7种尺寸的器件,其中小尺寸器件四个,大尺寸器件三个,W/L分别为0.35/0.35,0.35/0.5,0.5/0.35,0.5/0.5,5/20,10/20,20/20,单位为μm。对每种器件Vbs在-3到0之间均匀地取16个值,间隔为0.2(单位V);Vds取0,1.5,3(单位V),共产生Vth的336个(7×16×3)观测值,见附表。在Dell OptiPlex上进行计算,得到残差最小值是3.528e-3,运行时间为17秒,对应提取出的参数值是:
VTH0=0.6972,K1=0.5296,K2=-0.01776,K3=87.11,
K3B=3.150,W0=8.550e-6,NLX=1.616e-7,DVT0=2.215,
DVT1=0.3704,DVT2=-0.03458,DVT0W=0.9356,DVT1W=1.389e6,
DVT2W=-0.01751,DSUB=0.6985,ETA0=0.04878,ETAB=-0.0004437。
附表:阈值电压Vth在不同尺寸器件、不同体偏压Vbs和漏偏压Vds下的一组实际观测值,Vbs、Vth、Vds的单位均为伏(V)
器件(Device)1,宽度W、长度L分别为0.35μm,0.35μm
Vds=0 Vds=1.5 Vds=3
Vbs=-3.0 1.130850 1.124440 1.115562
Vbs=-2.8 1.108844 1.099948 1.102123
Vbs=-2.6 1.092196 1.088821 1 .082658
Vbs=-2.4 1.069456 1.073321 1.063701
Vbs=-2.2 1.060573 1.051615 1.038729
Vbs=-2.0 1.040648 1.038515 1.027594
Vbs=-1.8 1.012050 1.017031 1.000367
Vbs=-1.6 1.000250 0.987885 0.975813
Vbs=-1.4 0.974901 0.959776 0.961298
Vbs=-1.2 0.952007 0.936451 0.928372
Vbs=-1.0 0.922197 0.906484 0.914957
Vbs=-0.8 0.902155 0.890839 0.879691
Vbs=-0.6 0.871865 0.863717 0.852822
Vbs=-0.4 0.838501 0.837326 0.830164
Vbs=-0.2 0.800330 0.799834 0.787660
Vbs=0.0 0.761544 0.759453 0.758339
器件(Device)2,宽度W、长度L分别为0.5μm,0.35μm
Vds=0 Vds=1.5 Vds=3
Vbs=-3.0 1.149137 1.150717 1.141265
Vbs=-2.8 1.143143 1.134054 1.128780
Vbs=-2.6 1.128170 1.107681 1.099327
Vbs=-2.4 1.104126 1.092358 1.092504
Vbs=-2.2 1.083376 1.070671 1.064183
Vbs=-2.0 1.061739 1.053585 1.045623
Vbs=-1.8 1.044901 1.033378 1.019398
Vbs=-1.6 1.013662 1.007457 1.001508
Vbs=-1.4 1.002553 0.987742 0.988569
Vbs=-1.2 0.977843 0.960743 0.953949
Vbs=-1.0 0.932607 0.932743 0.924218
Vbs=-0.8 0.916456 0.903057 0.900854
Vbs=-0.6 0.893714 0.876698 0.873143
Vbs=-0.4 0.851560 0.846808 0.837064
Vbs=-0.2 0.831043 0.813277 0.807324
Vbs=0.0 0.776260 0.775448 0.772303
器件(Device)3,宽度W、长度L分别为0.35μm,0.5μm
Vds=0 Vds=1.5 Vds=3
Vbs=-3.0 1.206466 1.203934 1.205616
Vbs=-2.8 1.195704 1.182812 1.176025
Vbs=-2.6 1.164681 1.169008 1.163067
Vbs=-2.4 1.153623 1.144490 1.141856
Vbs=-2.2 1.123798 1.123276 1.117372
Vbs=-2.0 1.102690 1.098864 1.105474
Vbs=-1.8 1.085733 1.090316 1.082655
Vbs=-1.6 1.056628 1.059487 1.053994
Vbs=-1.4 1.043551 1.033565 1.026177
Vbs=-1.2 1.016536 1.016204 0.997486
Vbs=-1.0 0.979898 0.979795 0.980615
Vbs=-0.8 0.961842 0.957088 0.947886
Vbs=-0.6 0.925323 0.917297 0.919912
Vbs=-0.4 0.887650 0.883207 0.889370
Vbs=-0.2 0.858886 0.848717 0.852343
Vbs=0.0 0.814104 0.814149 0.814713
器件(Device)4,宽度W、长度L分别为0.5μm,0.5μm
Vds=0 Vds=1.5 Vds=3
Vbs=-3.0 1.223548 1.218398 1.216849
Vbs=-2.8 1.199925 1.204059 1.197736
Vbs=-2.6 1.186657 1.183781 1.178230
Vbs=-2.4 1.167595 1.159694 1.161523
Vbs=-2.2 1.139391 1.142557 1.126564
Vbs=-2.0 1.116685 1.118455 1.110063
Vbs=-1.8 1.095582 1.101743 1.100739
Vbs=-1.6 1.074558 1.080082 1.072332
Vbs=-1.4 1.042440 1.047874 1.039734
Vbs=-1.2 1.033992 1.015880 1.016252
Vbs=-1.0 1.001827 0.988718 0.987155
Vbs=-0.8 0.978671 0.964364 0.965055
Vbs=-0.6 0.934938 0.938235 0.921820
Vbs=-0.4 0.896434 0.898860 0.896018
Vbs=-0.2 0.858704 0.867493 0.868092
Vbs=0.0 0.821995 0.821598 0.824034
器件(Device)5,宽度W、长度L分别为5μm,10μm
Vds=0 Vds=1.5 Vds=3
Vbs=-3.0 1.264820 1.274181 1.270074
Vbs=-2.8 1.251561 1.251349 1.246487
Vbs=-2.6 1.224324 1.231689 1.223227
Vbs=-2.4 1.201243 1.190978 1.202349
Vbs=-2.2 1.177983 1.167822 1.177504
Vbs=-2.0 1.143919 1.140150 1.143488
Vbs=-1.8 1.121933 1.114484 1.115172
Vbs=-1.6 1.088456 1.085750 1.091547
Vbs=-1.4 1.057878 1.056432 1.063461
Vbs=-1.2 1.028703 1.029357 1.028491
Vbs=-1.0 0.991705 0.991361 0.995206
Vbs=-0.8 0.958862 0.954857 0.944415
Vbs=-0.6 0.911328 0.914121 0.912536
Vbs=-0.4 0.874044 0.876410 0.873151
Vbs=-0.2 0.833678 0.830499 0.829201
Vbs=0.0 0.780122 0.785369 0.781713
器件(Device)6,宽度W、长度L分别为10μm,10μm
Vds=0 Vds=1.5 Vds=3
Vbs=-3.0 1.256475 1.247579 1.246358
Vbs=-2.8 1.233401 1.230690 1.219110
Vbs=-2.6 1.198369 1.205935 1.201389
Vbs=-2.4 1.178198 1.176826 1.182701
Vbs=-2.2 1.151449 1.156013 1.149513
Vbs=-2.0 1.119288 1.118471 1.123906
Vbs=-1.8 1.098381 1.090763 1.092989
Vbs=-1.6 1.070419 1.061256 1.066974
Vbs=-1.4 1.033965 1.035048 1.035424
Vbs=-1.2 1.014496 1.002167 1.003569
Vbs=-1.0 0.973052 0.978761 0.969900
Vbs=-0.8 0.934956 0.941397 0.939966
Vbs=-0.6 0.888031 0.896293 0.897565
Vbs=-0.4 0.855481 0.856195 0.865294
Vbs=-0.2 0.815377 0.811709 0.820091
Vbs=0.0 0.762606 0.761529 0.755056
器件(Device)7,宽度W、长度L分别为20μm,20μm
Vds=0 Vds=1.5 Vds=3
Vbs=-3.0 1.237865 1.242835 1.233391
Vbs=-2.8 1.200460 1.214880 1.209715
Vbs=-2.6 1.173323 1.180958 1.189651
Vbs=-2.4 1.162479 1.159686 1.154133
Vbs=-2.2 1.135053 1.135948 1.134740
Vbs=-2.0 1.100834 1.104808 1.100048
Vbs=-1.8 1.073069 1.077653 1.076786
Vbs=-1.6 1.045710 1.051034 1.038416
Vbs=-1.4 1.012845 1.019822 1.011061
Vbs=-1.2 0.983968 0.988423 0.991850
Vbs=-1.0 0.956270 0.951357 0.953950
Vbs=-0.8 0.919873 0.924625 0.916402
Vbs=-0.6 0.873024 0.876537 0.870259
Vbs=-0.4 0.834124 0.837203 0.833416
Vbs=-0.2 0.784539 0.785437 0.796562
Vbs=0.0 0.734700 0.729558 0.737565
机译: 基本频率轨迹模型参数提取装置,基本频率轨迹模型参数提取方法,程序和记录介质
机译: 基本频率弹道模型参数提取装置,基本频率弹道模型参数提取方法,程序和记录介质
机译: 模型参数提取装置和模型参数提取方法