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一种自旋系综磁共振相位高带宽高精度检测方法

摘要

本发明公开了一种自旋系综磁共振相位高带宽高精度检测方法,可以在确保磁共振信号检测精度的同时又具有较高的检测带宽。它包括如下步骤:(1)提取磁共振信号与激励信号的相位差信息;(2)消除磁共振信号与激励信号相位差信息中的倍频信号;(3)获取磁共振信号与激励信号的相位差。本发明的有益效果在于:本发明涉及的是量子传感器自旋系综磁共振信号的相位检测方法,具体地说在基于磁共振效应的量子传感器应用中采用本发明方法能够在确保磁共振信号检测精度的同时又具有较高的检测带宽。

著录项

  • 公开/公告号CN111060860A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京自动化控制设备研究所;

    申请/专利号CN201811205947.0

  • 申请日2018-10-17

  • 分类号

  • 代理机构核工业专利中心;

  • 代理人孙成林

  • 地址 100074 北京市丰台区云岗北区西里1号院

  • 入库时间 2023-12-17 08:04:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/54 申请日:20181017

    实质审查的生效

  • 2020-04-24

    公开

    公开

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