法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-19
著录事项变更 IPC(主分类):G01N23/20008 变更前: 变更后: 申请日:20191104
著录事项变更
2020-04-10
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/20008 申请日:20191104
实质审查的生效
2020-03-17
公开
公开
机译: 使用硅单晶的偏轴进行X射线衍射的非反射样品架,样品架制造方法以及包括样品架和X射线衍射分析方法的X射线衍射分析系统由于照明角度而不会产生衍射,从而降低噪音
机译: 包括单晶偏轴的样品架,样品架的制造方法,使用样品架的X射线衍射分析系统以及X射线衍射分析方法
机译: 样品即第三族氮化物的倒数网格点测量方法,涉及通过X射线衍射实验在网格点产生反射,并在相同入射角下在该点进行另一次X射线衍射实验